| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-14页 |
| ·概述 | 第10-11页 |
| ·国内外发展现状 | 第11-12页 |
| ·本文内容安排 | 第12-14页 |
| 第二章 TI-ADC 系统结构及性能研究 | 第14-38页 |
| ·ADC 的基本原理 | 第14-16页 |
| ·ADC 性能描述参数 | 第16-20页 |
| ·ADC 中的静态指标 | 第16-18页 |
| ·ADC 中的动态指标 | 第18-20页 |
| ·高速ADC 的结构类型 | 第20-23页 |
| ·全并行结构（Flash） | 第20-21页 |
| ·两步式结构（Two-step） | 第21页 |
| ·折叠内插结构（Folding and Interpolation） | 第21-22页 |
| ·流水线式结构（Pipeline） | 第22-23页 |
| ·时间交织式结构（Time-interleave） | 第23页 |
| ·TI-ADC 结构及误差源分析 | 第23-36页 |
| ·TI-ADC 的结构设计 | 第23-25页 |
| ·TI-ADC 通道失配误差分析 | 第25-34页 |
| ·TI-ADC 通道失配指标 | 第34-36页 |
| ·小结 | 第36-38页 |
| 第三章 CMOS 采保电路研究 | 第38-45页 |
| ·采样理论 | 第38-41页 |
| ·采样定理 | 第38-39页 |
| ·THA 电路中的性能参数 | 第39-41页 |
| ·静态指标 | 第39-40页 |
| ·动态指标 | 第40-41页 |
| ·采保电路结构 | 第41-43页 |
| ·闭环结构 | 第41-42页 |
| ·开环结构 | 第42-43页 |
| ·THA 电路的噪声源 | 第43-44页 |
| ·KT/C 噪声 | 第43页 |
| ·时钟Jitter 噪声 | 第43-44页 |
| ·其它噪声源 | 第44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第四章 TI-ADC 中的THA 电路设计与仿真 | 第45-71页 |
| ·MOS 采样开关设计 | 第45-61页 |
| ·MOS 采样开关建模 | 第45-46页 |
| ·MOS 采样开关中的误差源分析 | 第46-51页 |
| ·沟道电荷注入 | 第46-48页 |
| ·捕捉时间 | 第48-49页 |
| ·采样时间不确定性 | 第49-51页 |
| ·MOS 采样开关线性度分析 | 第51-58页 |
| ·开关的导通电阻 | 第52-53页 |
| ·开关Volterra 级数频域分析 | 第53-57页 |
| ·开关的线性度仿真 | 第57-58页 |
| ·本文的MOS 采样开关 | 第58-61页 |
| ·高线性度缓冲器设计 | 第61-64页 |
| ·THA 电路总体仿真 | 第64-69页 |
| ·THA 原型电路和时序 | 第64-66页 |
| ·THA 电路仿真 | 第66-69页 |
| ·THA 电路版图 | 第69-70页 |
| ·小结 | 第70-71页 |
| 第五章 结论与展望 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 在校期间的研究成果 | 第77-78页 |