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基于Tcl/Tk的BMC自动化测试工具的设计与实现

摘要第5-6页
Abstract第6页
目录第7-10页
图目录第10-11页
表目录第11-12页
第一章 绪论第12-16页
    1.1 国内外概况和发展第12-13页
    1.2 工程意义和价值第13页
    1.3 遇到的困难第13-14页
    1.4 本文工作内容第14-15页
    1.5 使用技术和创新点第15页
    1.6 论文章节安排第15-16页
第二章 基板管理控制器技术第16-22页
    2.1 基板管理控制器技术框架第16页
    2.2 基板管理控制器第16-19页
        2.2.1 基板管理控制器简介第16-18页
        2.2.2 传感器数据记录简介第18-19页
        2.2.3 域可替换单元简介第19页
    2.3 IPMI协议简介第19-21页
        2.3.1 IPMI协议的架构第19-20页
        2.3.2 IPMI协议的发展第20-21页
        2.3.3 IPMI协议与基板管理控制器第21页
    2.4 本章小结第21-22页
第三章 基板管理控制器自动化测试工具需求分析及系统设计第22-33页
    3.1 基于消息的需求分析第22-24页
        3.1.1 IPMI命令需求分析第22-23页
        3.1.2 OEM命令需求分析第23-24页
    3.2 基板管理控制器自动化测试工具功能需求第24-25页
    3.3 基板管理控制器自动化测试工具系统设计第25-27页
    3.4 基板管理控制器自动化测试工具模块划分第27-32页
        3.4.1 系统框架阐述第29页
        3.4.2 框架管理者模块第29-30页
        3.4.3 工具库模块第30-31页
        3.4.4 消息路由库模块第31页
        3.4.5 传输模块第31-32页
        3.4.6 测试模块和工具模块第32页
    3.5 本章小结第32-33页
第四章 基板管理控制器自动化测试工具详细设计与实现第33-60页
    4.1 Tcl/Tk语言特性研究第33-35页
        4.1.1 调用栈第33-34页
        4.1.2 名称空间第34-35页
        4.1.3 语言特性应用第35页
    4.2 系统初始化实现第35-43页
        4.2.1 targetSelectAndLoad过程实现第36-37页
        4.2.2 targetEval过程实现第37-39页
        4.2.3 targetOpenPorts过程实现第39-40页
        4.2.4 目标配置文件第40-41页
        4.2.5 平台配置文件第41-43页
    4.3 测试初始化实现第43-48页
        4.3.1 tload过程实现第43-45页
        4.3.2 tunload过程实现第45页
        4.3.3 testEval过程实现第45-47页
        4.3.4 testAddToMenu过程实现第47-48页
    4.4 测试执行实现第48-49页
    4.5 事件实现第49-53页
        4.5.1 系统初始化相关事件第50-51页
        4.5.2 测试模块相关全局事件第51页
        4.5.3 测试模块相关名称空间事件第51-53页
        4.5.4 其它事件第53页
    4.6 多任务支持实现第53-57页
        4.6.1 ftfTestseqStart过程实现第53-55页
        4.6.2 ftfTestseqParseLog过程实现第55-57页
    4.7 界面截图第57-59页
        4.7.1 系统初始化第57页
        4.7.2 测试加载与执行第57-59页
    4.8 本章小结第59-60页
第五章 基板管理控制器自动化测试工具应用第60-65页
    5.1 测试模块开发第60-62页
        5.1.1 测试用例描述第60-61页
        5.1.2 测试脚本实现第61-62页
    5.2 基板管理控制器自动化测试工具实际应用第62-64页
    5.3 基板管理控制器自动化测试工具不足第64页
    5.4 本章小结第64-65页
第六章 总结与展望第65-66页
    6.1 总结第65页
    6.2 展望第65-66页
参考文献第66-68页
致谢第68-70页

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