致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7页 |
1 绪论 | 第10-18页 |
1.1 研究背景及目的 | 第10-11页 |
1.1.1 研究背景 | 第10-11页 |
1.1.2 研究目的 | 第11页 |
1.2 概念界定 | 第11-13页 |
1.3 国内外的研究现状 | 第13-15页 |
1.3.1 国外研究现状 | 第13-14页 |
1.3.2 国内研究现状 | 第14-15页 |
1.4 研究的内容与方法 | 第15-17页 |
1.4.1 研究内容 | 第15页 |
1.4.2 研究方法 | 第15-17页 |
1.5 论文创新 | 第17页 |
1.6 论文结构 | 第17-18页 |
2 我国高新技术产业的发展现状分析 | 第18-26页 |
2.1 总体发展现状 | 第18-21页 |
2.1.1 相比与国际社会 | 第18-20页 |
2.1.2 国内发展现状 | 第20-21页 |
2.2 区域发展现状 | 第21-26页 |
2.2.1 区域分析对象 | 第22页 |
2.2.2 主营业务收入 | 第22-23页 |
2.2.3 技术经费支出 | 第23-24页 |
2.2.4 企业性质 | 第24-26页 |
3 区域高新技术聚集研究 | 第26-42页 |
3.1 研究对象及数据 | 第26页 |
3.2 综合实力因子分析法求解 | 第26-35页 |
3.2.1 构建指标评价体系 | 第26-29页 |
3.2.2 外部实力因子求解 | 第29-32页 |
3.2.3 内部实力因子求解 | 第32-35页 |
3.3 综合实力排名及分析 | 第35-40页 |
3.3.1 外部实力分析 | 第36-37页 |
3.3.2 内部实力分析 | 第37-39页 |
3.3.3 综合实力分析 | 第39-40页 |
3.4 区域高新技术聚集分析 | 第40-42页 |
3.4.1 聚集中心省市的确定 | 第40页 |
3.4.2 聚集中心省市变化趋势 | 第40-42页 |
4 聚集地高新技术辐射半径分析 | 第42-48页 |
4.1 威尔逊模型简介 | 第42-43页 |
4.2 辐射半径的测算 | 第43-44页 |
4.3 辐射半径的影响因素 | 第44-45页 |
4.3.1 衰减因子 | 第44页 |
4.3.2 资源总量 | 第44-45页 |
4.4 辐射半径的变化趋势 | 第45-46页 |
4.5 辐射范围的变化趋势 | 第46-48页 |
5 受辐射地高新技术吸收效率分析 | 第48-59页 |
5.1 效率的定义与衡量 | 第48-49页 |
5.2 基于malmquist指数的数据包络模型简介 | 第49页 |
5.3 研究对象及数据来源 | 第49-50页 |
5.4 投入产出指标的确定 | 第50页 |
5.5 横截面数据的DEA分析 | 第50-56页 |
5.5.1 测算方法 | 第51页 |
5.5.2 受辐射地高新技术吸收效率分析 | 第51-54页 |
5.5.3 差额变数分析 | 第54-56页 |
5.6 DEA动态效率分析—基于malmquist指数 | 第56-59页 |
6 结论与启示 | 第59-62页 |
6.1 结论 | 第59-60页 |
6.2 启示 | 第60-62页 |
参考文献 | 第62-65页 |
作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第65-67页 |
学位论文数据集 | 第67页 |