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基于能带调控的单层MoS2掺杂仿真研究

摘要第3-5页
ABSTRACT第5-7页
第一章 绪论第11-21页
    1.1 概述第11-15页
        1.1.1 二硫化钼介绍第11-12页
        1.1.2 二硫化钼的性质及应用第12-15页
    1.2 二硫化钼能带调控的主要方法第15-17页
        1.2.1 掺杂调控第16页
        1.2.2 空位缺陷调控第16页
        1.2.3 应力调控第16-17页
        1.2.4 外加电场调控第17页
        1.2.5 构造异质结构第17页
    1.3 本文选题依据、研究现状及主要内容第17-21页
        1.3.1 选题依据第17-18页
        1.3.2 研究现状第18-19页
        1.3.3 研究主要内容第19-21页
第二章 基础理论及VASP软件简介第21-27页
    2.1 第一性原理计算方法第21-22页
        2.1.1 绝热近似第21页
        2.1.2 单电子近似第21-22页
    2.2 密度泛函理论(DFT)第22-23页
        2.2.1 局域密度近似(LDA)第22页
        2.2.2 广义梯度近似(GGA)第22-23页
    2.3 计算软件简介第23-27页
        2.3.1 MS软件包第23-24页
        2.3.2 VASP软件包第24-27页
第三章 非金属元素Se掺杂对单层MoS2的影响第27-37页
    3.1 引言第27页
    3.2 计算方法与结构模型第27-28页
        3.2.1 计算方法第27-28页
        3.2.2 模型构造第28页
    3.3 计算结果与讨论第28-35页
        3.3.1 结构分析第28-30页
        3.3.2 能带结构第30-33页
        3.3.3 态密度第33-34页
        3.3.4 光学性质第34-35页
    3.4 本章小结第35-37页
第四章 金属元素Nb掺杂对单层MoS2的影响第37-47页
    4.1 引言第37页
    4.2 计算方法与结构模型第37-39页
        4.2.1 计算方法第37-38页
        4.2.2 模型构造第38-39页
    4.3 计算结果与讨论第39-45页
        4.3.1 结构分析第39页
        4.3.2 能带结构及态密度第39-44页
        4.3.3 电荷局域密度分析第44-45页
        4.3.4 结构的稳定性第45页
    4.4 本章小结第45-47页
第五章 空位缺陷对单层MoS2电子结构的调控第47-57页
    5.1 引言第47-48页
    5.2 计算方法与结构模型第48-49页
        5.2.1 模型构建第48页
        5.2.2 计算方法第48-49页
    5.3 计算结果与讨论第49-54页
        5.3.1 结构分析第49-50页
        5.3.2 能带结构第50-52页
        5.3.3 态密度第52-54页
    5.4 本章小结第54-57页
第六章 总结与展望第57-61页
    6.1 全文总结第57-59页
    6.2 展望第59-61页
参考文献第61-67页
致谢第67-69页
攻读硕士期间发表的论文及获得的成果第69页

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