| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 相关技术的发展 | 第11-12页 |
| 1.2.1 自动测试系统的发展概况 | 第11页 |
| 1.2.2 故障诊断的发展和趋势 | 第11-12页 |
| 1.3 论文研究内容及章节安排 | 第12-14页 |
| 第二章 雷达电路板通用测试系统 | 第14-26页 |
| 2.1 自动测试系统概述 | 第14页 |
| 2.2 雷达电路板通用测试系统硬件框架 | 第14-16页 |
| 2.3 雷达电路板通用测试系统软件框架 | 第16-19页 |
| 2.3.1 自动测试系统的软件功能 | 第16-18页 |
| 2.3.2 软件平台测试流程 | 第18-19页 |
| 2.4 软件平台仪器功能库的设计与互换性验证 | 第19-22页 |
| 2.4.1 软件平台仪器功能库的设计 | 第19-21页 |
| 2.4.2 软件平台仪器功能库的互换性验证 | 第21-22页 |
| 2.5 自动测试系统软件平台应用举例 | 第22-23页 |
| 2.6 基于自动测试系统的雷达数字电路板的故障诊断方案 | 第23-25页 |
| 2.7 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 边界扫描在雷达数字电路故障诊断中的应用 | 第26-42页 |
| 3.1 边界扫描技术原理与方法 | 第26-32页 |
| 3.1.1 边界扫描逻辑的基本结构 | 第26-29页 |
| 3.1.2 边界扫描的测试类型 | 第29-32页 |
| 3.2 边界扫描在雷达数字电路故障诊断中的应用 | 第32-41页 |
| 3.2.1 边界扫描测试系统硬件组成 | 第32-33页 |
| 3.2.2 边界扫描测试开发过程 | 第33-37页 |
| 3.2.3 宏测试在数字电路板故障诊断中的应用 | 第37-38页 |
| 3.2.4 边界扫描测试工具模块化设计与系统集成 | 第38-40页 |
| 3.2.5 边界扫描在雷达电路板自动测试系统中的应用 | 第40-41页 |
| 3.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 基于故障树分析的雷达数字电路故障诊断 | 第42-62页 |
| 4.1 故障树分析概述 | 第42-43页 |
| 4.2 故障树定性分析 | 第43-47页 |
| 4.2.1 Semanderes算法 | 第43-44页 |
| 4.2.2 Fussell-Vasely算法 | 第44-45页 |
| 4.2.3 故障树结构编码设计 | 第45-46页 |
| 4.2.4 Fussell-Vasely算法的编程实现 | 第46-47页 |
| 4.3 故障树定量分析 | 第47-50页 |
| 4.3.1 故障树定量分析方法 | 第47-48页 |
| 4.3.2 基于不交型积之和定理的定量分析实现 | 第48-50页 |
| 4.4 BDD在故障树分析中的应用 | 第50-57页 |
| 4.4.1 故障树向BDD转换的方法与实现 | 第50-54页 |
| 4.4.2 故障树基本事件排序 | 第54-55页 |
| 4.4.3 基于BDD的故障树定性分析与实现 | 第55-56页 |
| 4.4.4 基于BDD的故障树顶事件发生概率求取 | 第56页 |
| 4.4.5 BDD方法与传统故障树分析方法的比较 | 第56-57页 |
| 4.5 基于FTA的故障诊断顺序 | 第57-58页 |
| 4.6 FTA在雷达数字电路故障诊断中的应用举例 | 第58-60页 |
| 4.7 本章小结 | 第60-62页 |
| 第五章 雷达数据处理板故障诊断及调试验证 | 第62-72页 |
| 5.1 数据处理板的结构分析 | 第62-63页 |
| 5.2 数据处理板的TPS设计 | 第63-69页 |
| 5.2.1 故障树分析部分 | 第63-65页 |
| 5.2.2 边界扫描测试部分 | 第65-69页 |
| 5.3 数据处理板的测试及结果验证 | 第69-70页 |
| 5.4 本章小结 | 第70-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 工作总结 | 第72页 |
| 6.2 研究展望 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-82页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第82页 |
