| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-25页 |
| 1.1 现代测试技术的发展 | 第15-16页 |
| 1.2 现代测试系统特点 | 第16-17页 |
| 1.3 现代测试系统的结构与设计 | 第17-21页 |
| 1.3.1 现代测试系统的结构模型 | 第17-20页 |
| 1.3.2 现代测试系统的设计方法 | 第20-21页 |
| 1.4 现代测试技术的分类 | 第21-22页 |
| 1.5 现代测试系统的发展方向 | 第22-23页 |
| 1.6 动态数据测量的研究背景和意义 | 第23-24页 |
| 1.6.1 动态数据处理理论 | 第23页 |
| 1.6.2 A/D过程中的量化误差的存在现象 | 第23页 |
| 1.6.3 研究意义 | 第23-24页 |
| 1.7 论文的内容安排和主要成果 | 第24页 |
| 1.8 小结 | 第24-25页 |
| 第二章 数字化动态测量的理论技术基础 | 第25-37页 |
| 2.1 数字信号处理 | 第25-28页 |
| 2.1.1 数字信号处理的基本结构 | 第25-26页 |
| 2.1.2 数字信号处理的具体步骤 | 第26-28页 |
| 2.2 模拟信号的数字化方法 | 第28-31页 |
| 2.2.1 传统采样理论 | 第28-31页 |
| 2.2.2 模拟信号量化的两类方法 | 第31页 |
| 2.3 量化误差的分析 | 第31-35页 |
| 2.4 模数转换的动态理论 | 第35-36页 |
| 2.5 小结 | 第36-37页 |
| 第三章 数字化动态测量的硬件设计与实现 | 第37-51页 |
| 3.1 动态数据处理的论述 | 第37-39页 |
| 3.2 数据AD采样板介绍 | 第39-44页 |
| 3.2.1 ADC08100管脚图 | 第39-40页 |
| 3.2.2 ADC08100模拟信号输入电路及其精确转换电路 | 第40-42页 |
| 3.2.3 ADC08100具体电路实现与应用 | 第42-44页 |
| 3.2.4 ADC08100的模拟输入线路原理图 | 第44页 |
| 3.3 快速采样后数据经FPGA板快速读取的实现过程 | 第44-50页 |
| 3.3.1 读取采样数据的FPGA外围硬件线路 | 第45-49页 |
| 3.3.2 FPGA内的SDRAM连接图 | 第49-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 数字化动态测量的实验数据分析 | 第51-65页 |
| 4.1 数字化动态测量的理论基础 | 第51-52页 |
| 4.2 对线性数据应用数据动态处理理论的分析 | 第52-55页 |
| 4.2.1 对线性数据应用数据动态处理的纵向测量 | 第52-53页 |
| 4.2.2 对线性数据应用数据动态处理的横向测量 | 第53-55页 |
| 4.3 应用低速采样板对数据动态处理的分析 | 第55-59页 |
| 4.3.1 数字化动态测量中应用边沿效应的数据处理过程 | 第56-57页 |
| 4.3.2 应用不同方法测量电压幅度与数字化动态测量相比较 | 第57页 |
| 4.3.3 多种测量工具对比数字化动态测量的参考幅度相对误差 | 第57-59页 |
| 4.4 高速A/D转换器对数据的动态处理分析 | 第59-63页 |
| 4.4.1 采用高速的A/D采样来采集处理数据 | 第59-61页 |
| 4.4.2 动态数据测量理论降低同步误差影响 | 第61-63页 |
| 4.5 动态数据处理理论的误差分析 | 第63-64页 |
| 4.6 小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-69页 |
| 5.1 总结 | 第65-66页 |
| 5.2 应用与展望 | 第66-69页 |
| 附录A | 第69-75页 |
| 附录B | 第75-77页 |
| 附录C | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-83页 |
| 作者简介 | 第83-84页 |
