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平面磁控溅射靶的优化设计及膜厚均匀性分析

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
1 绪论第12-24页
    1.1 论文研究的目的和意义第12-13页
    1.2 论文研究背景及进展第13-21页
        1.2.1 靶材结构设计研究进展第13-18页
        1.2.2 靶水冷系统的研究进展第18-20页
        1.2.3 膜厚均匀性的研究进展第20-21页
    1.3 本文研究内容第21-24页
2 真空溅射镀膜理论及辉光放电模拟第24-44页
    2.1 等离子体概述及直流辉光放电特点第24-25页
    2.2 溅射镀膜原理第25-26页
    2.3 低气压辉光放电等离子体理论基础第26-32页
        2.3.1 漂移扩散理论第26-29页
        2.3.2 重粒子传输模型第29-32页
    2.4 直流辉光放电模拟第32-43页
        2.4.1 模拟软件Comsol 5.2 简介第32-33页
        2.4.2 放电初始参数的设置第33页
        2.4.3 设定反应参数第33-34页
        2.4.4 边界条件设定第34页
        2.4.5 物理模型建立及网格划分第34-35页
        2.4.6 等离子体数值模拟结果分析第35-43页
    2.5 本章小结第43-44页
3 平面磁控溅射靶的磁场模拟优化第44-62页
    3.1 磁控溅射镀膜原理第44-45页
    3.2 磁控溅射靶的结构设计第45-49页
        3.2.1 磁控溅射靶选型第45页
        3.2.2 靶永磁体设计第45-46页
        3.2.3 极靴的设计第46-47页
        3.2.4 靶冷却系统的设计第47页
        3.2.5 屏蔽罩的设计第47-48页
        3.2.6 溅射电源的选择第48-49页
    3.3 磁控溅射相关电磁场理论第49-52页
        3.3.1 麦克斯韦电磁场理论第49-50页
        3.3.2 静态电磁场的边界条件第50-51页
        3.3.3 磁介质的分类第51-52页
    3.4 磁控溅射靶的磁场模拟优化第52-56页
        3.4.1 物理模型建立及网格划分第52-53页
        3.4.2 网格无关性验证第53-55页
        3.4.3 磁场优化方案第55-56页
    3.5 靶的结构参数对磁场的影响规律第56-58页
        3.5.1 不同外磁环与靶材间距对磁场的影响第56页
        3.5.2 内磁环高度对磁场的影响第56-57页
        3.5.3 导磁片对磁场的影响第57-58页
    3.6 加导磁片的优化设计第58-60页
        3.6.1 导磁片长度对磁场的影响第58-59页
        3.6.2 导磁片的厚度对磁场的影响第59-60页
        3.6.3 导磁片与磁环之间的间距对磁场的影响第60页
    3.7 结论与分析第60-61页
    3.8 本章小结第61-62页
4 平面磁控溅射靶冷却系统仿真及优化第62-76页
    4.1 计算流体力学CFD概述第62-63页
        4.1.1 前处理器Gambit第62-63页
        4.1.2 求解器Fluent简介第63页
    4.2 圆平面磁控溅射靶冷却系统仿真第63-67页
        4.2.1 磁控靶冷却系统模型建立第63-64页
        4.2.2 边界条件设定第64-65页
        4.2.3 理论计算与模拟验证第65-66页
        4.2.4 模拟结果分析第66-67页
    4.3 水冷系统优化设计第67-73页
        4.3.1 冷却通道结构的改进及分析第67-69页
        4.3.2 水流进出口方向对换热效率的影响第69-73页
    4.4 结论及分析第73页
    4.5 本章小结第73-76页
5 小靶大基片镀膜的膜厚均匀性分析及优化第76-96页
    5.1 膜厚分布理论模型第76-78页
        5.1.1 物理模型的建立第76-77页
        5.1.2 数学模型的建立第77-78页
    5.2 传统基片自转、靶材固定时的膜厚均匀性第78-88页
        5.2.1 靶基距与薄膜沉积速率的关系第78-83页
        5.2.2 偏心距与薄膜沉积速率的关系第83-88页
    5.3 新型靶材与基片运动方式的确定第88-94页
        5.3.1 靶材停顿时间对膜厚均匀性的影响第89-90页
        5.3.2 靶材移动步长对膜厚均匀性的影响第90-92页
        5.3.3 基片中心附近膜厚分布优化第92-94页
    5.4 分析与讨论第94-95页
    5.5 本章小结第95-96页
6 总结与展望第96-98页
    6.1 总结第96-97页
    6.2 展望第97-98页
致谢第98-100页
参考文献第100-104页
攻读学位期间发表的学术论文及专利目录第104-105页

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