| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 表格 | 第11-12页 |
| 插图 | 第12-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-22页 |
| ·引言 | 第14-16页 |
| ·编码概述 | 第16-18页 |
| ·多样性保护策略概述 | 第18-19页 |
| ·冗余系统容错能力与系统子电路结构关系概述 | 第19-20页 |
| ·本文所做的工作 | 第20-22页 |
| 第二章 一种新的基于映射函数的模拟电路自动化编码方法 | 第22-38页 |
| ·引言 | 第22-24页 |
| ·函数编码 | 第24-30页 |
| ·编码基本属性 | 第24-27页 |
| ·编码特点 | 第27-30页 |
| ·实验和结果 | 第30-35页 |
| ·只有二端口元件的电路设计 | 第30-32页 |
| ·包含三端元件的电路设计 | 第32-35页 |
| ·本章小结 | 第35-38页 |
| 第三章 一种用于电路演化设计的结构多样性保护机制 | 第38-50页 |
| ·引言 | 第38-40页 |
| ·模拟电路的结构度量方法 | 第40-41页 |
| ·基于惩罚和保护机制的种群多样性保护策略 | 第41-43页 |
| ·实验及结果 | 第43-47页 |
| ·k取零的情况下的基于相似度的区间划分的结构多样性保护机制 | 第44-45页 |
| ·k不取零情况下的基于相似度的区间划分的结构多样性保护机制 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-50页 |
| 第四章 冗余系统子电路结构距离与容错能力关系研究 | 第50-62页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·欧氏和余弦距离度量下的子电路结构距离与容错能力关系研究 | 第51-54页 |
| ·基于度量学习的冗余系统的容错能力与子电路结构距离关系研究 | 第54-57页 |
| ·度量学习的基本概念 | 第54-55页 |
| ·基于马氏距离的度量学习参数的设置 | 第55-57页 |
| ·实验及结果 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-62页 |
| 第五章 总结 | 第62-64页 |
| ·工作总结 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 在读期间发表的学术论文与参与的科研项目 | 第70页 |
