表目录 | 第1-8页 |
图目录 | 第8-11页 |
摘要 | 第11-12页 |
ABSTRACT | 第12-14页 |
第一章 绪论 | 第14-26页 |
·论文研究背景及意义 | 第14页 |
·密封泄漏理论研究 | 第14-18页 |
·金属垫片密封方式 | 第15-17页 |
·球头-锥面密封方式 | 第17-18页 |
·航天器在轨泄漏检测技术综述 | 第18-24页 |
·指向性真空规检测法 | 第18-20页 |
·超声波泄漏检测法 | 第20-21页 |
·推进剂敏感器检测法 | 第21-22页 |
·压力检测法 | 第22页 |
·光学检测方法 | 第22-23页 |
·红外检漏技术 | 第23-24页 |
·各种检测方法对比 | 第24页 |
·论文主要研究内容 | 第24-26页 |
第二章 密封泄漏模型研究 | 第26-37页 |
·引言 | 第26-29页 |
·金属表面形貌分析 | 第26-27页 |
·金属表面参数表征 | 第27-29页 |
·现有接触形貌模型 | 第29-31页 |
·Roth 模型 | 第29-30页 |
·微凸体模型 | 第30页 |
·分形几何法 | 第30-31页 |
·小结 | 第31页 |
·面密封泄漏通道建模 | 第31-36页 |
·面密封表面轮廓特性 | 第31-34页 |
·面密封泄漏通道分析 | 第34-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第三章 微通道气体流动分析及 Monte Carlo 仿真 | 第37-52页 |
·引言 | 第37-38页 |
·气体流动的分区 | 第37-38页 |
·DSMC 方法 | 第38页 |
·密封面泄漏模型分析 | 第38-40页 |
·Monte Carlo 法仿真计算 | 第40-44页 |
·环带泄漏概率计算模型 | 第40-41页 |
·泄漏单元内流动状态判断 | 第41-42页 |
·算法流程 | 第42-44页 |
·仿真计算 | 第44-51页 |
·初始边界条件 | 第44页 |
·单元泄漏概率 | 第44-45页 |
·环带内分子数目与压强 | 第45-46页 |
·环带层数对仿真结果的影响 | 第46-47页 |
·密封面压紧力对仿真结果的影响 | 第47-49页 |
·泄漏量计算 | 第49-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第四章 红外成像检测法研究 | 第52-72页 |
·引言 | 第52页 |
·气体模型建立 | 第52-57页 |
·模型建立与简化 | 第52-53页 |
·稳态情况下平板温度场分布计算 | 第53-55页 |
·数值计算 | 第55-57页 |
·液体泄漏闪蒸原理研究 | 第57-62页 |
·液体闪蒸原理研究 | 第57-61页 |
·液体泄漏模型分析 | 第61-62页 |
·泄漏点温度场分布仿真分析 | 第62-71页 |
·气体泄漏模型仿真 | 第62-67页 |
·液体泄漏模型仿真 | 第67-71页 |
·本章小结 | 第71-72页 |
第五章 红外成像检测法实验研究 | 第72-81页 |
·引言 | 第72-76页 |
·试验系统总体方案 | 第72-73页 |
·试验系统组成 | 第73-76页 |
·红外热像仪测温标定试验 | 第76-77页 |
·管路泄漏试验 | 第77-80页 |
·本章小结 | 第80-81页 |
结束语 | 第81-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-85页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第85页 |