| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| ·前言 | 第9-10页 |
| ·红外探测器简介 | 第10-14页 |
| ·红外探测器发展历史 | 第10页 |
| ·红外探测器分类 | 第10-14页 |
| ·红外焦平面（FPA）技术简介 | 第14-18页 |
| ·红外 FPA 技术发展历史 | 第14-15页 |
| ·红外 FPA 技术国内外发展现状 | 第15-16页 |
| ·FPA 的主要性能指标 | 第16-18页 |
| ·论文的选题意义、内容结构以及主要创新点 | 第18-20页 |
| ·论文的选题意义 | 第18-19页 |
| ·论文的内容结构 | 第19页 |
| ·论文的主要创新点 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第二章 CMOS 器件与电路的低温特性分析 | 第21-43页 |
| ·低温器件与电路概述 | 第21-22页 |
| ·低温 MOSFET 的特性分析 | 第22-37页 |
| ·亚阈值区 | 第23-24页 |
| ·线性区 | 第24-28页 |
| ·饱和区 | 第28-31页 |
| ·串联电阻、有效沟道长度和有效沟道宽度 | 第31-34页 |
| ·超低温 MOSFET 特性 | 第34-37页 |
| ·低温 CMOS 电路的特性分析 | 第37-41页 |
| ·低温对 CMOS 数字电路的影响 | 第37-38页 |
| ·低温对 CMOS 模拟电路的影响 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第三章 MOSFET 低温参数提取与建模 | 第43-68页 |
| ·MOSFET 模型 | 第43-48页 |
| ·阈值电压参数方程 | 第44-45页 |
| ·迁移率参数方程 | 第45页 |
| ·强反型区 I-V 模型 | 第45-46页 |
| ·亚阈值区 I-V 模型 | 第46-47页 |
| ·源漏寄生电阻模型 | 第47页 |
| ·有效沟道长度和有效沟道宽度模型 | 第47-48页 |
| ·MOSFET 低温参数提取 | 第48-67页 |
| ·几个关键参数的提取方法 | 第48-51页 |
| ·MOSFET 低温 I-V 测试 | 第51-53页 |
| ·单 MOSFET 低温参数提取 | 第53-58页 |
| ·基于 BSIM3 的低温修正模型 | 第58-63页 |
| ·完整的 MOSFET 低温参数提取 | 第63-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第四章 512×512 阵列低温红外读出电路的设计 | 第68-99页 |
| ·512×512 阵列读出电路的总体结构 | 第68-69页 |
| ·单元读出电路的设计 | 第69-80页 |
| ·常用的单元读出电路结构 | 第69-74页 |
| ·CTIA 单元电路的设计与仿真 | 第74-79页 |
| ·CTIA 单元电路的噪声分析 | 第79-80页 |
| ·列读出电路的设计与仿真 | 第80-88页 |
| ·基于电荷转移的列读出结构设计 | 第80-83页 |
| ·列读出电路中运算放大器的设计 | 第83-87页 |
| ·列读出电路的整体仿真 | 第87-88页 |
| ·列选通器与输出缓冲器的设计与仿真 | 第88-90页 |
| ·版图设计与整体后仿真 | 第90-94页 |
| ·版图设计 | 第90-93页 |
| ·整体后仿真 | 第93-94页 |
| ·芯片测试 | 第94-98页 |
| ·本章小结 | 第98-99页 |
| 第五章 红外读出电路中的低温 ADC 设计 | 第99-160页 |
| ·常用的 ADC 结构 | 第100-105页 |
| ·闪速（FLASH）ADC 结构 | 第101页 |
| ·流水线（Pipelined）ADC 结构 | 第101-102页 |
| ·循环（Cyclic）ADC 结构 | 第102-103页 |
| ·逐次逼近（SAR）ADC 结构 | 第103页 |
| ·单斜（Single-slope）ADC 结构 | 第103-104页 |
| ·过采样（Oversampling）ADC 结构 | 第104页 |
| ·各类 ADC 的比较 | 第104-105页 |
| ·带有失配校准的 Cyclic ADC 设计 | 第105-137页 |
| ·RSD 编码 Cyclic ADC 的基本原理 | 第106-108页 |
| ·基于运算放大器复用与失调消除的余量放大器结构 | 第108-112页 |
| ·改进的 RSD 校准算法 | 第112-115页 |
| ·Cyclic ADC 具体电路的设计 | 第115-130页 |
| ·Cyclic ADC 的版图设计与整体后仿真 | 第130-135页 |
| ·Cyclic ADC 的芯片测试 | 第135-137页 |
| ·带有温度补偿的 SAR ADC 设计 | 第137-159页 |
| ·SAR ADC 的基本原理 | 第137-140页 |
| ·分段式电容阵列 DAC 结构 | 第140-141页 |
| ·温度补偿比较器的设计 | 第141-149页 |
| ·逻辑控制电路的设计 | 第149-152页 |
| ·SAR ADC 的版图设计与整体后仿真 | 第152-157页 |
| ·SAR ADC 的芯片测试 | 第157-159页 |
| ·本章小结 | 第159-160页 |
| 第六章 总结与展望 | 第160-162页 |
| ·全文总结 | 第160-161页 |
| ·低温 MOSFET 模型设计总结 | 第160页 |
| ·低温红外 FPA 读出电路设计总结 | 第160页 |
| ·低温 ADC 电路的设计总结 | 第160-161页 |
| ·未来工作展望 | 第161-162页 |
| 参考文献 | 第162-171页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第171-172页 |
| 致谢 | 第172页 |