| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·雪崩光电二极管噪声测试方法的研究 | 第8-13页 |
| ·国内外噪声测试方法现状 | 第8-9页 |
| ·利用锁相放大器来测量雪崩噪声功率谱 | 第8页 |
| ·利用动态信号分析仪进行测试 | 第8-9页 |
| ·利用数据采集卡与软件相结合 | 第9页 |
| ·噪声测试中所存在的问题及解决方案 | 第9-13页 |
| ·器件本身的高阻抗使噪声信号衰减 | 第9-10页 |
| ·偏置电压过高会降低耦合电容寿命甚至使耦合电容击穿 | 第10-13页 |
| 第二章 APD低频噪声测试技术理论基础 | 第13-25页 |
| ·APD工作原理及特性参数 | 第14-20页 |
| ·APD工作原理 | 第14-16页 |
| ·APD的特性参数 | 第16-20页 |
| ·量子效率及响应度 | 第16-17页 |
| ·雪崩倍增因子M | 第17-18页 |
| ·暗电流 | 第18-19页 |
| ·过剩噪声 | 第19-20页 |
| ·APD的噪声 | 第20-22页 |
| ·噪声对雪崩光电二极管性能的影响 | 第22-25页 |
| 第三章 APD和LD电参数及低频噪声测试 | 第25-39页 |
| ·APD和LD电参数测试 | 第25-27页 |
| ·低频噪声特性及测试要求 | 第27-29页 |
| ·低频噪声特性 | 第27-28页 |
| ·测试技术要求 | 第28-29页 |
| ·APD和LD噪声测试方案 | 第29-34页 |
| ·噪声测试方案 | 第29-30页 |
| ·测试系统的组成模块 | 第30-34页 |
| ·硬件测试系统 | 第30-32页 |
| ·软件测试系统 | 第32-34页 |
| ·测试系统工作流程 | 第34页 |
| ·噪声测试结果 | 第34-39页 |
| ·APD噪声测试结果 | 第35-37页 |
| ·LD噪声测试结果 | 第37-39页 |
| 第四章 APD噪声特性及应用研究 | 第39-49页 |
| ·APD的噪声特性研究 | 第39-43页 |
| ·APD噪声特性 | 第39-42页 |
| ·暗电流特性 | 第39-40页 |
| ·时域分析 | 第40-41页 |
| ·频域分析 | 第41-42页 |
| ·APD噪声特性分析 | 第42-43页 |
| ·APD与LD噪声结果对比分析 | 第43-44页 |
| ·APD的噪声应用研究 | 第44-49页 |
| ·APD低频噪声表征参量 | 第45-47页 |
| ·APD可靠性的噪声表征 | 第47-49页 |
| 第五章 总结 | 第49-51页 |
| ·论文总结 | 第49页 |
| ·展望 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 在校期间研究成果 | 第57页 |