SoC测试数据压缩方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| ·SoC 简介 | 第13-15页 |
| ·相关背景 | 第13-14页 |
| ·SoC 构成及优势 | 第14-15页 |
| ·SoC 面临的挑战和研究意义 | 第15-17页 |
| ·SoC 面临的挑战 | 第15-16页 |
| ·研究的意义 | 第16-17页 |
| ·国内外研究现状 | 第17-18页 |
| ·论文的研究内容及章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 SoC 测试技术 | 第20-27页 |
| ·SoC 测试 | 第20-22页 |
| ·测试原理 | 第20-21页 |
| ·基于 IP 核的 SoC 测试 | 第21-22页 |
| ·故障建模及测试生成 | 第22-26页 |
| ·故障模型 | 第22-24页 |
| ·故障模拟 | 第24-25页 |
| ·测试生成 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 自测试与数据压缩 | 第27-45页 |
| ·自测试 | 第27-36页 |
| ·内建自测试 | 第27-35页 |
| ·外建自测试 | 第35-36页 |
| ·编码数据压缩 | 第36-44页 |
| ·定长-定长编码 | 第37-39页 |
| ·定长-变长编码 | 第39-42页 |
| ·变长-定长编码 | 第42-44页 |
| ·变长-变长编码 | 第44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 基于位差码的测试数据压缩方案 | 第45-58页 |
| ·传统编码 | 第45-50页 |
| ·Golomb 编码 | 第45-47页 |
| ·FDR 编码 | 第47-48页 |
| ·交替与连续码 | 第48-50页 |
| ·位差游程编码 | 第50-57页 |
| ·编码原理 | 第50-52页 |
| ·编码示例 | 第52-53页 |
| ·位差游程解码 | 第53-57页 |
| ·实验结果 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·总结 | 第58页 |
| ·展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 附录 | 第64-65页 |
| 附录一：攻读硕士学位期间发表的论文 | 第64页 |
| 附录二：攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第64-65页 |
