基于FPGA的CCD扫描缺陷检测实时数据处理技术的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·国内外研究现状及课题背景 | 第10-14页 |
| ·本文主要内容 | 第14-16页 |
| 第2章 缺陷数据处理系统硬件方案设计 | 第16-31页 |
| ·缺陷检测装置的组成及工作原理 | 第16-20页 |
| ·光源及照明方式 | 第16-17页 |
| ·光学系统 | 第17-18页 |
| ·CCD 器件 | 第18-20页 |
| ·缺陷数据处理系统硬件设计 | 第20-30页 |
| ·信号采集模块 | 第21-25页 |
| ·FPGA 模块 | 第25-28页 |
| ·USB 接口模块 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 缺陷数据处理系统软件设计 | 第31-56页 |
| ·缺陷参数检测算法 | 第31-35页 |
| ·检测原理 | 第31-33页 |
| ·缺陷横向尺寸和位置确定 | 第33-34页 |
| ·缺陷纵向尺寸和位置确定 | 第34-35页 |
| ·缺陷图形的重建 | 第35页 |
| ·基于FPGA 的缺陷图像预处理方案设计 | 第35-39页 |
| ·缺陷图像数据封装格式设计 | 第36-38页 |
| ·基于 FPGA 的数据处理结构 | 第38-39页 |
| ·缺陷数据处理算法的实现与仿真 | 第39-52页 |
| ·FPGA 及其开发工具 | 第39-40页 |
| ·时钟管理单元 | 第40-42页 |
| ·时钟计数单元 | 第42-43页 |
| ·A/D 控制单元 | 第43页 |
| ·基于动态阈值的缺陷提取单元 | 第43-46页 |
| ·缺陷数据提取与封装单元 | 第46-48页 |
| ·数据缓冲单元 | 第48-50页 |
| ·接口单元 | 第50-51页 |
| ·总体性能仿真结果 | 第51-52页 |
| ·USB 软件及PC 机应用程序设计 | 第52-55页 |
| ·USB 固件编程 | 第52-53页 |
| ·驱动程序设计 | 第53-54页 |
| ·应用程序设计 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第4章 实验验证与分析 | 第56-60页 |
| ·对标准模板实验验证与分析 | 第56-58页 |
| ·对聚合物薄膜材料实验验证与分析 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
