| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·综合孔径微波辐射计概述 | 第8-9页 |
| ·传统微波辐射计概述 | 第8-9页 |
| ·综合孔径微波辐射计概述 | 第9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第11-12页 |
| 第二章 综合孔径微波辐射计理论基础 | 第12-31页 |
| ·天线采样原理 | 第12-15页 |
| ·干涉测量原理 | 第15-23页 |
| ·点源的干涉测量原理 | 第16-19页 |
| ·扩展目标干涉测量原理 | 第19-20页 |
| ·综合孔径辐射计测量原理 | 第20-23页 |
| ·反演成像算法 | 第23-29页 |
| ·Fourier 反演算法 | 第23-24页 |
| ·G 矩阵算法 | 第24-25页 |
| ·反卷积算法（Clean 算法） | 第25-29页 |
| ·温度分辨率和空间分辨率 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 二维空间图像频域特征 | 第31-42页 |
| ·频谱在不同方向上的可分离性 | 第32页 |
| ·Fourier 频谱统计规律 | 第32-33页 |
| ·频谱与亮温变化方向的关系 | 第33-34页 |
| ·频谱与亮温变化快慢的关系 | 第34页 |
| ·频谱与物体尺寸的关系 | 第34-36页 |
| ·纹理的频谱的分布特点 | 第36-38页 |
| ·阵列图像的频谱特征 | 第38页 |
| ·Fourier 频谱分析的一些缺点 | 第38-39页 |
| ·对一些实际图像的分析 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 综合孔径微波辐射计系统误差分析 | 第42-50页 |
| ·信道误差分析 | 第42-44页 |
| ·信道幅度误差分析 | 第42-43页 |
| ·信道相位误差分析 | 第43-44页 |
| ·天线误差分析 | 第44-46页 |
| ·天线位置误差分析 | 第44-45页 |
| ·天线方向图误差分析 | 第45页 |
| ·天线相位误差 | 第45-46页 |
| ·基线缺失 | 第46页 |
| ·上述误差的仿真 | 第46-49页 |
| ·各误差仿真（天线方向图误差除外） | 第46-48页 |
| ·天线方向图误差仿真 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 幅度误差的检测及反演图像的修正 | 第50-60页 |
| ·幅度误差的检测 | 第50-51页 |
| ·对幅度误差图像的修正 | 第51-54页 |
| ·实际飞行实验的数据处理 | 第54-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 综合孔径天线非均匀采样无混叠视场的确定 | 第60-67页 |
| ·均匀采样视场无混叠条件及无混叠区域 | 第60-61页 |
| ·非均匀采样反演视场无混叠区域的相关讨论 | 第61-66页 |
| ·非均匀采样视场无混叠区域的确定 | 第61-63页 |
| ·非均匀频谱采样条件下反演视场无混叠区域存在的条件 | 第63-64页 |
| ·仿真的结果 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第七章 总结 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 发表文章目录 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |