光学薄膜的椭圆偏振模型分析与数据处理研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
1 绪论 | 第7-9页 |
·椭圆偏振测量的发展 | 第7-8页 |
·本文的主要研究工作 | 第8-9页 |
2 光学薄膜椭圆偏振测量的基本原理 | 第9-16页 |
·菲涅耳反射系数 | 第9-12页 |
·光在两种均匀、各向同性介质界面上的反射 | 第9-10页 |
·光在介质薄膜上的反射 | 第10-12页 |
·椭圆偏振测量原理 | 第12-15页 |
·光在薄膜表面反射对偏振态的改变 | 第12-13页 |
·反射系数比与椭偏参数 | 第13-14页 |
·椭偏分析 | 第14-15页 |
·本章小结 | 第15-16页 |
3 光学薄膜系统的模型 | 第16-29页 |
·建立适当模型 | 第16页 |
·建立薄膜系统模型 | 第16-20页 |
·结构模型 | 第17-18页 |
·色散模型 | 第18-20页 |
·模型参数的相关性 | 第20页 |
·测量灵敏度区域 | 第20-27页 |
·椭偏参数随薄膜参数变化时灵敏度的比较 | 第20-22页 |
·椭圆偏振测量中的薄膜厚度 | 第22-24页 |
·选择合适的入射角度 | 第24-27页 |
·选择合适的模型参数的初始值 | 第27-28页 |
·本章小结 | 第28-29页 |
4 椭圆偏振测量的数据处理 | 第29-41页 |
·椭偏测量数据处理概述 | 第29-31页 |
·模拟退火算法的思想和基本原理 | 第31-32页 |
·评价函数 | 第32-33页 |
·模拟退火法计算薄膜参数 | 第33-37页 |
·模拟退火算法计算薄膜参数的原理 | 第33-35页 |
·模拟退火算法的参数选择 | 第35-37页 |
·拟合结果评价 | 第37-38页 |
·数据处理程序设计 | 第38-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
5 薄膜样品参数的测量 | 第41-50页 |
·薄膜样品 | 第41页 |
·样品的测量 | 第41-49页 |
·标准样品的测量 | 第41-44页 |
·玻璃基底样品的测量 | 第44-46页 |
·单层 TiO_2膜样品测量 | 第46-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
6 全文总结 | 第50-51页 |
致谢 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-55页 |