提高ECT系统性能的方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-22页 |
| ·过程层析成像的发展历程 | 第10-11页 |
| ·过程层析成像的特点、用途和构成 | 第11-14页 |
| ·过程层析成像技术的研究现状 | 第14-21页 |
| ·X射线与γ射线层析成像 | 第15-16页 |
| ·超声波层析成像 | 第16-17页 |
| ·电容层析成像(ECT) | 第17-18页 |
| ·电阻层析成像 | 第18-20页 |
| ·电磁层析成像 | 第20-21页 |
| ·过程层析成像技术的发展趋势 | 第21-22页 |
| 2 电容层析成像原理 | 第22-27页 |
| ·电容层析成像测量原理 | 第22-26页 |
| ·ECT系统的特点分析 | 第26-27页 |
| 3 本课题研究的内容 | 第27-28页 |
| 4 电容层析成像系统设计 | 第28-39页 |
| ·模式选择电路的设计 | 第28-31页 |
| ·模式选择电路的集成化设计 | 第31-36页 |
| ·Verilog HDL语言 | 第31-32页 |
| ·Workview Office开发软件 | 第32-33页 |
| ·用PLD实现模式选择电路的集成化 | 第33-36页 |
| ·数据采集系统中的相移与其消除方法 | 第36-39页 |
| ·用锁相环电路来改进的微电容测量电路 | 第37-39页 |
| 5 控制与重建计算机系统的设计 | 第39-47页 |
| ·DSP芯片介绍 | 第39-43页 |
| ·A／D转换 | 第43-44页 |
| ·图像重建计算机DSP系统 | 第44-46页 |
| ·ECT系统的原理框图 | 第46-47页 |
| 6 ECT系统敏感场仿真 | 第47-54页 |
| ·ANSYS仿真软件 | 第47-48页 |
| ·网格剖分 | 第48-49页 |
| ·敏感场灵敏度仿真 | 第49-54页 |
| 7 ECT系统的图像重建算法 | 第54-65页 |
| ·ECT系统图像重建算法分析 | 第54-59页 |
| ·线性反投影法LBP | 第55-56页 |
| ·基于模型的MOR法 | 第56-57页 |
| ·迭代算法 | 第57-58页 |
| ·人工神经网络法 | 第58-59页 |
| ·带最优平均修正的正则化图像重建算法 | 第59-62页 |
| ·逆问题、不适定性和正则化的基本概念 | 第59页 |
| ·基于约束的最小二乘法 | 第59-61页 |
| ·SIRT算法 | 第61-62页 |
| ·带最优平均修正的图像重建算法 | 第62-64页 |
| ·修正因子μ的确定 | 第63-64页 |
| ·滤波 | 第64-65页 |
| 8 实验结果分析 | 第65-70页 |
| ·图像重建结果与分析 | 第65-67页 |
| ·DSP硬件结果分析 | 第67-70页 |
| 结论 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 在学研究成果 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
