基于嵌入式系统的铁损测试仪的研制
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景与意义 | 第10-11页 |
| ·本文研究主要工作 | 第11-12页 |
| ·本文安排 | 第12-14页 |
| 第2章 铁损测量方法 | 第14-28页 |
| ·传统测量方法 | 第14-24页 |
| ·爱泼斯坦方圈法—功率表法 | 第14-20页 |
| ·电桥法 | 第20-21页 |
| ·硅钢带损耗的连续自动测量 | 第21-23页 |
| ·单片硅钢片的测量 | 第23-24页 |
| ·传统铁损测量方法优点和缺点 | 第24页 |
| ·探头式单片测量方法 | 第24-27页 |
| ·探头式单片测试原理 | 第24-26页 |
| ·探头式单片测量的优点 | 第26-27页 |
| ·本章小节 | 第27-28页 |
| 第3章 系统总体设计方案 | 第28-34页 |
| ·系统需求分析 | 第28-29页 |
| ·功能性需求 | 第28页 |
| ·非功能性需求 | 第28-29页 |
| ·硬件器件选择 | 第29-30页 |
| ·ARM微处理器STM32F101RB | 第30-33页 |
| ·STM32微控制器的主要优点 | 第30-32页 |
| ·系统结构设计 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 系统硬件设计 | 第34-53页 |
| ·硬件总体结构设计 | 第34-35页 |
| ·硬件电路设计 | 第35-50页 |
| ·模拟电路部分电源设计 | 第35页 |
| ·正弦波发生器设计 | 第35-37页 |
| ·功率放大器设计 | 第37-38页 |
| ·测试探头设计 | 第38-39页 |
| ·放大电路设计 | 第39-41页 |
| ·反馈电路设计 | 第41-42页 |
| ·电压调节器 | 第42-44页 |
| ·数字电路电源设计 | 第44页 |
| ·液晶显示电路设计 | 第44-45页 |
| ·USB接口电路设计 | 第45-46页 |
| ·串口电路设计 | 第46-47页 |
| ·JTAG接口电路设计 | 第47页 |
| ·Flash电路设计 | 第47-48页 |
| ·键盘电路设计 | 第48-49页 |
| ·LED控制电路设计 | 第49页 |
| ·蜂鸣器电路 | 第49-50页 |
| ·PCB制板 | 第50-52页 |
| ·元件布局 | 第50页 |
| ·电源线与地线 | 第50-51页 |
| ·电磁兼容性设计 | 第51-52页 |
| ·去耦电容 | 第52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 系统软件设计 | 第53-67页 |
| ·Keil μVision3开发环境介绍 | 第53-54页 |
| ·μVision3集成开发环境 | 第53-54页 |
| ·ULINK USB-JTAG接口适配器 | 第54页 |
| ·总体软件设计 | 第54-66页 |
| ·A/D转换 | 第55-58页 |
| ·LCD显示 | 第58-59页 |
| ·FLASH读写 | 第59-60页 |
| ·串口通信 | 第60-65页 |
| ·测量结果 | 第65-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 第6章 测量注意事项 | 第67-68页 |
| ·使用方法 | 第67页 |
| ·注意事项 | 第67-68页 |
| 第7章 总结与展望 | 第68-70页 |
| ·总结 | 第68-69页 |
| ·展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 附录一 | 第73-74页 |
| 附录二 | 第74-75页 |
| 附录三 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 攻读学位期间参加的科研项目和成果 | 第77页 |
