光学校准设备研制中的层次化测试性设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第7页 |
| 1.2 测试性设计的主要工作内容 | 第7-11页 |
| 1.2.1 层次化功能结构划分 | 第8页 |
| 1.2.2 测试性指标分配 | 第8-9页 |
| 1.2.3 测试性建模及诊断策略生成 | 第9-10页 |
| 1.2.4 测试性分析 | 第10-11页 |
| 1.2.5 测试性指标验证 | 第11页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第二章 层次化测试性设计 | 第13-43页 |
| 2.1 层次化测试性设计 | 第13-27页 |
| 2.1.1 分布式BIT设计简介 | 第13-15页 |
| 2.1.2 功能结构层次划分 | 第15-17页 |
| 2.1.3 FMEA数据在测试性设计中的应用 | 第17页 |
| 2.1.4 FMEA中约定层次及功能结构的划分 | 第17-18页 |
| 2.1.5 FMEA中故障模式确定规则 | 第18-21页 |
| 2.1.6 典型电路故障模式的确定 | 第21-27页 |
| 2.2 测试性建模 | 第27-35页 |
| 2.2.1 模型数据的获取 | 第27-28页 |
| 2.2.2 相关性模型的建立 | 第28-29页 |
| 2.2.3 D矩阵简化及故障方程生成 | 第29-31页 |
| 2.2.4 F-T模型 | 第31-34页 |
| 2.2.5 模型建立过程 | 第34-35页 |
| 2.3 诊断策略生成 | 第35-39页 |
| 2.4 测试性分析 | 第39-42页 |
| 2.4.1 经典F-T模型测试性分析 | 第39页 |
| 2.4.2 融合可用性特征的F-T模型测试性分析 | 第39-42页 |
| 2.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 基于视觉定位的校准设备层次化测试性设计 | 第43-59页 |
| 3.1 校准设备概述 | 第43-45页 |
| 3.2 校准设备功能结构划分 | 第45-46页 |
| 3.3 测试性指标分配 | 第46-51页 |
| 3.3.1 测试性分配的含义及要求 | 第46-47页 |
| 3.3.2 测试性分配框图和数学模型 | 第47-48页 |
| 3.3.3 测试性指标分配方法 | 第48-50页 |
| 3.3.4 电子组件测试性指标分配 | 第50-51页 |
| 3.4 电子组件测试性建模及诊断策略生成 | 第51-58页 |
| 3.4.1 数据准备 | 第51-52页 |
| 3.4.2 图形化模型建立 | 第52-53页 |
| 3.4.3 建模结果预计 | 第53页 |
| 3.4.4 诊断策略生成 | 第53-55页 |
| 3.4.5 测试性分析 | 第55-58页 |
| 3.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 校准设备测试性试验验证 | 第59-73页 |
| 4.1 试验设计 | 第59-64页 |
| 4.1.1 FMEA的审查确认 | 第59页 |
| 4.1.2 备选样本库建立 | 第59-60页 |
| 4.1.3 编制测试性试验大纲 | 第60-61页 |
| 4.1.4 确定测试性试验方案 | 第61-62页 |
| 4.1.5 抽样方法 | 第62-63页 |
| 4.1.6 试验用例编制及实施 | 第63-64页 |
| 4.2 校准设备测试性验证试验实施 | 第64-72页 |
| 4.2.1 校准设备测试性指标要求 | 第64-65页 |
| 4.2.2 试验方案 | 第65-70页 |
| 4.2.3 试验结果及数据分析 | 第70-72页 |
| 4.3 本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 本文总结与展望 | 第73-75页 |
| 5.1 本文总结 | 第73页 |
| 5.2 后续工作展望 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
