KSr2I5:Eu晶体生长与闪烁性能研究
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 1 绪论 | 第16-37页 |
| 1.1 引言 | 第16-17页 |
| 1.2 闪烁晶体的发光机理 | 第17-19页 |
| 1.3 闪烁晶体的性能参数 | 第19-21页 |
| 1.3.1 光输出 | 第19-20页 |
| 1.3.2 能量分辨率 | 第20页 |
| 1.3.3 衰减时间 | 第20-21页 |
| 1.3.4 透过率 | 第21页 |
| 1.3.5 荧光光谱 | 第21页 |
| 1.4 无机离子闪烁晶体 | 第21-28页 |
| 1.4.1 氧化物闪烁晶体 | 第21-23页 |
| 1.4.2 卤化物闪烁晶体 | 第23-28页 |
| 1.5 闪烁晶体的应用 | 第28-30页 |
| 1.5.1 核物理与高能物理 | 第28-29页 |
| 1.5.2 天体物理 | 第29页 |
| 1.5.3 核医学成像 | 第29-30页 |
| 1.5.4 石油勘探 | 第30页 |
| 1.6 闪烁晶体的生长方法 | 第30-34页 |
| 1.6.1 晶体生长方法简述 | 第30-31页 |
| 1.6.2 提拉法 | 第31-33页 |
| 1.6.3 坩埚下降法 | 第33-34页 |
| 1.7 KSr_2I_5:Eu晶体的研究现状 | 第34-35页 |
| 1.8 论文选题依据与研究内容 | 第35-37页 |
| 1.8.1 选题依据 | 第35-36页 |
| 1.8.2 研究内容 | 第36-37页 |
| 2.实验设备与测试方法 | 第37-43页 |
| 2.1 生长设备与原料介绍 | 第37-38页 |
| 2.2 测试仪器与方法 | 第38-43页 |
| 2.2.1 X射线衍射分析测试 | 第38页 |
| 2.2.2 同步热分析测试 | 第38-39页 |
| 2.2.3 荧光光谱测试 | 第39-40页 |
| 2.2.4 X射线激发发射测试 | 第40页 |
| 2.2.5 透过率测试 | 第40-41页 |
| 2.2.6 光输出和能量分辨率测试 | 第41-42页 |
| 2.2.7 衰减时间测试 | 第42-43页 |
| 3.KSr_2I_5:Eu晶体生长与加工 | 第43-61页 |
| 3.1 KSr_2I_5:Eu晶体生长 | 第43-51页 |
| 3.1.1 生长前的准备工作 | 第43-47页 |
| 3.1.1.1 坩埚选择 | 第43-44页 |
| 3.1.1.2 坩埚清洗 | 第44页 |
| 3.1.1.3 装料和封口 | 第44-47页 |
| 3.1.2 KSr_2I_5:Eu晶体制备 | 第47-51页 |
| 3.2 KSr_2I_5:Eu晶体加工 | 第51-54页 |
| 3.2.1 晶体切割 | 第52页 |
| 3.2.2 晶体研磨 | 第52-53页 |
| 3.2.3 晶体抛光 | 第53页 |
| 3.2.4 晶体封装 | 第53-54页 |
| 3.3 KSr_2I_5:Eu工艺讨论 | 第54-55页 |
| 3.3.1 晶体的缺陷 | 第54-55页 |
| 3.3.2 晶体的开裂 | 第55页 |
| 3.3.3 解决措施 | 第55页 |
| 3.4 晶体生长影响因素分析 | 第55-60页 |
| 3.4.1 控制温度 | 第56-57页 |
| 3.4.2 杂质 | 第57页 |
| 3.4.3 下降高度 | 第57-58页 |
| 3.4.4 意外断电 | 第58页 |
| 3.4.5 温场分布 | 第58-59页 |
| 3.4.6 下降速率 | 第59-60页 |
| 3.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 4.KSr_2I_5:Eu晶体的性能表征 | 第61-66页 |
| 4.1 XRD测试 | 第61页 |
| 4.2 DSC/TG热分析 | 第61-62页 |
| 4.3 紫外可见荧光光谱 | 第62-63页 |
| 4.4 X射线激发发射光谱 | 第63-64页 |
| 4.5 脉冲高度谱 | 第64-65页 |
| 4.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 5.结论与展望 | 第66-68页 |
| 5.1 结论 | 第66页 |
| 5.2 论文创新点 | 第66-67页 |
| 5.3 展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-75页 |
| 作者简历 | 第75页 |
