电子倍增CCD的工作模式及其光子计数成像研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 1 绪论 | 第13-25页 |
| ·微光成像技术 | 第13-23页 |
| ·微光成像技术的发展 | 第14-21页 |
| ·光子计数成像的发展 | 第21-23页 |
| ·课题的研究背景及意义 | 第23页 |
| ·本文的主要工作 | 第23-25页 |
| 2 电子倍增CCD的工作原理及工作模式 | 第25-49页 |
| ·引言 | 第25-26页 |
| ·电子倍增CCD的结构与工作原理 | 第26-29页 |
| ·电子倍增CCD的工作模式 | 第29-31页 |
| ·常规模式 | 第29页 |
| ·线性模式 | 第29-30页 |
| ·光子计数模式 | 第30-31页 |
| ·电子倍增寄存器的等效电路模型 | 第31-40页 |
| ·CCM单元的等效电路 | 第32-36页 |
| ·CCM单元的分布式等效电路模型 | 第36-37页 |
| ·CCM分布式等效电路模型 | 第37-38页 |
| ·等效电路模型的应用 | 第38-40页 |
| ·电荷载流子倍增寄存器的输出模型 | 第40-47页 |
| ·CCM结构输出概率分布 | 第41-46页 |
| ·CCM结构对过噪声的影响 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 3 电子倍增CCD的噪声分析 | 第49-74页 |
| ·引言 | 第49页 |
| ·光子散粒噪声 | 第49-50页 |
| ·暗电流噪声 | 第50-59页 |
| ·暗电流噪声与温度 | 第52-54页 |
| ·暗电流噪声与多针相(MPP)模式 | 第54-59页 |
| ·时钟感生电荷 | 第59-63页 |
| ·时钟感生电荷与工作模式的关系 | 第61-62页 |
| ·时钟感生电荷与垂直转移频率的关系 | 第62页 |
| ·时钟感生电荷与时钟上升沿的关系 | 第62页 |
| ·时钟感生电荷与温度的关系 | 第62-63页 |
| ·减小时钟感生电荷的方法 | 第63页 |
| ·过噪声 | 第63-69页 |
| ·电子倍增过程的基本特性 | 第64-65页 |
| ·过噪声因子 | 第65-68页 |
| ·过噪声因子的测试 | 第68-69页 |
| ·增益起伏因子 | 第69页 |
| ·读出噪声 | 第69-71页 |
| ·复位噪声 | 第70-71页 |
| ·输出放大电路噪声 | 第71页 |
| ·其他噪声 | 第71-72页 |
| ·总噪声模型 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 4 电子倍增CCD光子计数成像 | 第74-96页 |
| ·引言 | 第74-75页 |
| ·光子计数成像原理 | 第75-81页 |
| ·光子特性 | 第75-79页 |
| ·光子计数成像系统及其特点 | 第79-81页 |
| ·电子倍增CCD的光子计数模式 | 第81-86页 |
| ·工作原理 | 第81-82页 |
| ·光子计数率及误计数 | 第82-85页 |
| ·噪声的定量模型 | 第85-86页 |
| ·实验 | 第86-94页 |
| ·真实增益 | 第86-88页 |
| ·光子响应 | 第88-94页 |
| ·本章小结 | 第94-96页 |
| 5 电子倍增CCD的光子图像 | 第96-122页 |
| ·引言 | 第96页 |
| ·阈值化技术 | 第96-106页 |
| ·单阈值法 | 第96-97页 |
| ·双重阈值法 | 第97-106页 |
| ·贝叶斯统计 | 第106-111页 |
| ·贝叶斯统计的基本原理 | 第106-107页 |
| ·用于信号微弱事件计数的贝叶斯逼近法 | 第107-109页 |
| ·贝叶斯逼近法在光子计数中的应用 | 第109-111页 |
| ·实验对比 | 第111-120页 |
| ·实验一 | 第111-115页 |
| ·实验二 | 第115-117页 |
| ·实验三 | 第117-118页 |
| ·实验四 | 第118-119页 |
| ·实验结果分析 | 第119-120页 |
| ·本章小结 | 第120-122页 |
| 6 结束语 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124-125页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第125-126页 |
| 参考文献 | 第126-134页 |
