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电子倍增CCD的工作模式及其光子计数成像研究

摘要第1-7页
Abstract第7-13页
1 绪论第13-25页
   ·微光成像技术第13-23页
     ·微光成像技术的发展第14-21页
     ·光子计数成像的发展第21-23页
   ·课题的研究背景及意义第23页
   ·本文的主要工作第23-25页
2 电子倍增CCD的工作原理及工作模式第25-49页
   ·引言第25-26页
   ·电子倍增CCD的结构与工作原理第26-29页
   ·电子倍增CCD的工作模式第29-31页
     ·常规模式第29页
     ·线性模式第29-30页
     ·光子计数模式第30-31页
   ·电子倍增寄存器的等效电路模型第31-40页
     ·CCM单元的等效电路第32-36页
     ·CCM单元的分布式等效电路模型第36-37页
     ·CCM分布式等效电路模型第37-38页
     ·等效电路模型的应用第38-40页
   ·电荷载流子倍增寄存器的输出模型第40-47页
     ·CCM结构输出概率分布第41-46页
     ·CCM结构对过噪声的影响第46-47页
   ·本章小结第47-49页
3 电子倍增CCD的噪声分析第49-74页
   ·引言第49页
   ·光子散粒噪声第49-50页
   ·暗电流噪声第50-59页
     ·暗电流噪声与温度第52-54页
     ·暗电流噪声与多针相(MPP)模式第54-59页
   ·时钟感生电荷第59-63页
     ·时钟感生电荷与工作模式的关系第61-62页
     ·时钟感生电荷与垂直转移频率的关系第62页
     ·时钟感生电荷与时钟上升沿的关系第62页
     ·时钟感生电荷与温度的关系第62-63页
     ·减小时钟感生电荷的方法第63页
   ·过噪声第63-69页
     ·电子倍增过程的基本特性第64-65页
     ·过噪声因子第65-68页
     ·过噪声因子的测试第68-69页
     ·增益起伏因子第69页
   ·读出噪声第69-71页
     ·复位噪声第70-71页
     ·输出放大电路噪声第71页
   ·其他噪声第71-72页
   ·总噪声模型第72-73页
   ·本章小结第73-74页
4 电子倍增CCD光子计数成像第74-96页
   ·引言第74-75页
   ·光子计数成像原理第75-81页
     ·光子特性第75-79页
     ·光子计数成像系统及其特点第79-81页
   ·电子倍增CCD的光子计数模式第81-86页
     ·工作原理第81-82页
     ·光子计数率及误计数第82-85页
     ·噪声的定量模型第85-86页
   ·实验第86-94页
     ·真实增益第86-88页
     ·光子响应第88-94页
   ·本章小结第94-96页
5 电子倍增CCD的光子图像第96-122页
   ·引言第96页
   ·阈值化技术第96-106页
     ·单阈值法第96-97页
     ·双重阈值法第97-106页
   ·贝叶斯统计第106-111页
     ·贝叶斯统计的基本原理第106-107页
     ·用于信号微弱事件计数的贝叶斯逼近法第107-109页
     ·贝叶斯逼近法在光子计数中的应用第109-111页
   ·实验对比第111-120页
     ·实验一第111-115页
     ·实验二第115-117页
     ·实验三第117-118页
     ·实验四第118-119页
     ·实验结果分析第119-120页
   ·本章小结第120-122页
6 结束语第122-124页
致谢第124-125页
攻读博士学位期间发表的学术论文第125-126页
参考文献第126-134页

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