| 摘要 | 第10-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第16-37页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第16-20页 |
| 1.2 研究现状 | 第20-35页 |
| 1.2.1 固态硬盘与阵列面临的可靠性问题 | 第20-29页 |
| 1.2.2 固态硬盘与阵列的加固方法研究现状 | 第29-35页 |
| 1.3 本论文的主要工作 | 第35-37页 |
| 第二章 基于闪存比特错误模型的固态硬盘可靠性评价方法 | 第37-66页 |
| 2.1 简介 | 第37页 |
| 2.2 固态硬盘可靠性评价方法分析 | 第37-39页 |
| 2.3 闪存比特错误测试与建模 | 第39-56页 |
| 2.3.1 闪存比特错误测试 | 第39-47页 |
| 2.3.2 闪存比特错误模型设计与参数估计 | 第47-56页 |
| 2.4 固态硬盘的可靠性评价方法 | 第56-62页 |
| 2.4.1 固态硬盘丢数概率 | 第57-60页 |
| 2.4.2 固态硬盘剩余寿命 | 第60-62页 |
| 2.5 仿真验证 | 第62-65页 |
| 2.5.1 验证方法设计 | 第62-63页 |
| 2.5.2 仿真结果及性能分析 | 第63-65页 |
| 2.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 第三章 基于比特错误清理的固态硬盘加固方法 | 第66-85页 |
| 3.1 简介 | 第66页 |
| 3.2 比特错误增长规律分析 | 第66-70页 |
| 3.3 闪存页剩余寿命建模与估计 | 第70-75页 |
| 3.4 基于闪存页寿命感知的比特错误清理方法 | 第75-77页 |
| 3.5 仿真验证 | 第77-84页 |
| 3.5.1 验证方法设计 | 第77-79页 |
| 3.5.2 仿真结果及性能分析 | 第79-84页 |
| 3.6 本章小结 | 第84-85页 |
| 第四章 基于盘内冗余的固态硬盘与阵列加固方法 | 第85-110页 |
| 4.1 简介 | 第85页 |
| 4.2 基于RAID技术的加固方法分析 | 第85-90页 |
| 4.3 基于自适应RS码的盘内冗余构建方法 | 第90-93页 |
| 4.4 自适应RS码的编解码算法优化 | 第93-99页 |
| 4.5 仿真验证 | 第99-109页 |
| 4.5.1 验证方法设计 | 第99-102页 |
| 4.5.2 仿真结果及性能分析 | 第102-109页 |
| 4.6 本章小结 | 第109-110页 |
| 第五章 基于级差老化的固态阵列加固方法 | 第110-125页 |
| 5.1 简介 | 第110页 |
| 5.2 固态硬盘老化对固态阵列可靠性影响分析 | 第110-113页 |
| 5.3 基于容量的级差老化阵列构建方法 | 第113-117页 |
| 5.4 基于容量的级差老化阵列的部署与重构方法 | 第117-119页 |
| 5.5 仿真验证 | 第119-124页 |
| 5.5.1 验证方法设计 | 第119-120页 |
| 5.5.2 仿真结果及性能分析 | 第120-124页 |
| 5.6 本章小结 | 第124-125页 |
| 第六章 总结与展望 | 第125-127页 |
| 6.1 总结 | 第125-126页 |
| 6.2 未来的工作计划 | 第126-127页 |
| 致谢 | 第127-128页 |
| 参考文献 | 第128-139页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第139-140页 |
| 附录A ARS码译码方程组求解过程 | 第140页 |