熔体光谱辐射率装置建立和测量研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-24页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第12-14页 |
| 1.2 材料光谱辐射率研究现状 | 第14-22页 |
| 1.2.1 固体材料光谱辐射率研究现状 | 第14-21页 |
| 1.2.2 熔体材料的光谱辐射率发展现状 | 第21-22页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第22-24页 |
| 第二章 光谱辐射率测量装置的研制 | 第24-36页 |
| 2.1 测量方法和原理 | 第24-25页 |
| 2.2 加热炉体的设计 | 第25-29页 |
| 2.2.1 加热方式 | 第25-28页 |
| 2.2.2 加热环境 | 第28-29页 |
| 2.3 测量系统的建立 | 第29-36页 |
| 2.3.1 光学系统的设计 | 第30-31页 |
| 2.3.2 黑体辐射源 | 第31-32页 |
| 2.3.3 辐射能测量系统 | 第32-36页 |
| 第三章 测量装置的标定和方法验证 | 第36-50页 |
| 3.1 检测器的标定 | 第36-42页 |
| 3.1.1 双温法标定 | 第36-38页 |
| 3.1.2 检测器响应函数和背景函数 | 第38-40页 |
| 3.1.3 系统线性度测试 | 第40-42页 |
| 3.2 固体实验验证 | 第42-46页 |
| 3.3 不确定度分析 | 第46-50页 |
| 3.3.1 样品信号的不确定度分析 | 第46-47页 |
| 3.3.2 黑体信号的不确定度分析 | 第47-48页 |
| 3.3.3 样品温度的不确定度分析 | 第48-49页 |
| 3.3.4 黑体温度不确定度分析 | 第49页 |
| 3.3.5 背景函数的不确定度分析 | 第49页 |
| 3.3.6 总不确定度分析 | 第49-50页 |
| 第四章 熔体光谱辐射率测量研究 | 第50-60页 |
| 4.1 金属熔体光谱辐射率的测量 | 第50-52页 |
| 4.1.1 样品坩埚的选择 | 第50页 |
| 4.1.2 样品支架的设计 | 第50-51页 |
| 4.1.3 金属熔体光谱辐射率的测量 | 第51-52页 |
| 4.2 金属氧化物熔体光谱辐射率的测量 | 第52-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 总结 | 第60-61页 |
| 5.2 展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 作者简历 | 第70页 |
