| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| CONTENT | 第10-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-15页 |
| 1.2 关键技术及研究现状 | 第15-17页 |
| 1.2.1 采样保持的关键技术及研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.2 基准电路的关键技术及研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 版图设计的重要考虑 | 第17-18页 |
| 1.3.1 匹配性设计 | 第17-18页 |
| 1.3.2 耦合 | 第18页 |
| 1.4 论文主要研究内容及组织结构 | 第18-20页 |
| 第2章 流水线ADC的基础与架构 | 第20-35页 |
| 2.1 基本结构与工作原理 | 第20-21页 |
| 2.2 ADC的性能指标 | 第21-24页 |
| 2.2.1 静态指标 | 第21-22页 |
| 2.2.2 动态指标 | 第22-24页 |
| 2.3 12位流水线ADC架构的选取 | 第24-25页 |
| 2.4 采样保持电路的性能要求 | 第25-32页 |
| 2.4.1 采样保持电路的结构 | 第26-29页 |
| 2.4.2 非理想因素分析 | 第29-32页 |
| 2.5 基准电路的性能要求 | 第32-33页 |
| 2.6 本章小结 | 第33-35页 |
| 第3章 栅压自举开关的分析与设计 | 第35-49页 |
| 3.1 栅压自举开关的原理 | 第35-36页 |
| 3.2 典型栅压自举开关 | 第36-37页 |
| 3.3 栅压自举开关的实现 | 第37-40页 |
| 3.4 仿真结果与分析 | 第40-45页 |
| 3.5 栅压自举开关的版图与后仿真 | 第45-48页 |
| 3.5.1 栅压自举开关的版图 | 第45页 |
| 3.5.2 栅压自举开关的后仿真 | 第45-48页 |
| 3.6 本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 基准电路的分析与设计 | 第49-76页 |
| 4.1 带隙基准的工作原理 | 第49-52页 |
| 4.1.1 V_(BE)的负温度特性 | 第49-50页 |
| 4.1.2 ΔV_(BE)的正温度特性 | 第50-51页 |
| 4.1.3 带隙基准的原理 | 第51-52页 |
| 4.2 带隙基准的性能指标 | 第52-53页 |
| 4.3 高精度高电源抑制比带隙基准电路的分析与设计 | 第53-62页 |
| 4.3.1 基准电路的结构 | 第54页 |
| 4.3.2 温度系数分析 | 第54-57页 |
| 4.3.3 电源抑制比分析 | 第57-61页 |
| 4.3.4 启动电路分析 | 第61-62页 |
| 4.4 仿真结果与分析 | 第62-67页 |
| 4.4.1 温度系数仿真 | 第63页 |
| 4.4.2 电源抑制比仿真 | 第63-64页 |
| 4.4.3 线性调整率仿真 | 第64-65页 |
| 4.4.4 启动特性仿真 | 第65-67页 |
| 4.5 基准电路的版图与后仿真 | 第67-71页 |
| 4.5.1 基准电路的版图 | 第67-69页 |
| 4.5.2 温度系数的后仿真 | 第69-70页 |
| 4.5.3 电源抑制比的后仿真 | 第70页 |
| 4.5.4 线性调整率的后仿真 | 第70-71页 |
| 4.6 基准电路的测试 | 第71-74页 |
| 4.7 本章小结 | 第74-76页 |
| 第5章 结论与展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 硕士期间发表论文 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82页 |