| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·稀磁半导体研究进展 | 第10页 |
| ·ZnO 基稀磁半导体研究概述 | 第10-13页 |
| ·ZnO 简介 | 第10-12页 |
| ·ZnO 基稀磁半导体研究进展 | 第12-13页 |
| ·选题依据和主要研究内容 | 第13-15页 |
| ·选题依据 | 第13页 |
| ·主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 Zn_(1-x)Cr_xO 薄膜样品的制备、表征及磁性测量 | 第15-22页 |
| ·薄膜样品的制备 | 第15-19页 |
| ·实验设备 | 第15-17页 |
| ·衬底的清洗 | 第17页 |
| ·真空室的清洁 | 第17页 |
| ·实验过程 | 第17-18页 |
| ·实验参数 | 第18-19页 |
| ·样品的结构、成份表征 | 第19-20页 |
| ·X 射线衍射（XRD） | 第19-20页 |
| ·扫描电子显微镜（SEM） | 第20页 |
| ·X 射线光电子能谱（XPS） | 第20页 |
| ·磁性测量 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 实验结果分析 | 第22-42页 |
| ·不同Cr 含量的Zn_(1-x)Cr_xO 薄膜样品的结构及磁性分析 | 第22-34页 |
| ·EDS 成份及含量分析 | 第22-23页 |
| ·XRD 结构分析 | 第23-25页 |
| ·SEM 形貌分析 | 第25-26页 |
| ·XPS 价态分析 | 第26-29页 |
| ·薄膜样品磁性分析 | 第29-34页 |
| ·不同氩氧比的Zn_(1-x)Cr_xO 薄膜样品的结构及磁性分析 | 第34-38页 |
| ·XRD 结构分析 | 第34-35页 |
| ·SEM 形貌分析 | 第35-36页 |
| ·薄膜样品磁性分析 | 第36-38页 |
| ·退火气氛对Zn_(1-x)Cr_xO 薄膜样品的结构及磁性影响 | 第38-40页 |
| ·XRD 结构分析 | 第38-39页 |
| ·薄膜样品磁性分析 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第四章 结论与展望 | 第42-44页 |
| ·结论 | 第42-43页 |
| ·不足与展望 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-48页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
