基于倒数—谱残差与SLIC超像素分割的图像显著性方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第7页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第7-9页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第9-10页 |
| 1.4 本文的主要结构 | 第10-12页 |
| 第二章 典型的显著对象探测和提取方法 | 第12-21页 |
| 2.1 概述 | 第12页 |
| 2.2 Itti方法 | 第12-15页 |
| 2.3 AC方法 | 第15-16页 |
| 2.4 SR方法 | 第16-19页 |
| 2.5 RC方法 | 第19-20页 |
| 2.6 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 基于倒数-谱残差的显著对象探测和提取方法 | 第21-33页 |
| 3.1 概述 | 第21-22页 |
| 3.2 倒数-谱残差的显著对象探测和提取方法 | 第22-27页 |
| 3.3 实验结果与分析 | 第27-32页 |
| 3.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 基于SLIC超像素分割的显著区域检测方法 | 第33-41页 |
| 4.1 概述 | 第33-34页 |
| 4.2 图像分层与SLIC超像素分割 | 第34-35页 |
| 4.3 单层图像的显著特征提取 | 第35-37页 |
| 4.4 显著图融合 | 第37页 |
| 4.5 实验结果与分析 | 第37-40页 |
| 4.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章 结论与展望 | 第41-43页 |
| 5.1 本文小结 | 第41页 |
| 5.2 未来展望 | 第41-43页 |
| 参考文献 | 第43-47页 |
| 个人简介 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48页 |
