| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 目 录 | 第6-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-18页 |
| 1.1 课题目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 论文结构 | 第11页 |
| 1.3 ADC静态参数和动态参数的定义 | 第11-18页 |
| 1.3.1 静态参数 | 第11-14页 |
| 1.3.2 动态参数 | 第14-16页 |
| 1.3.3 总结 | 第16-18页 |
| 第2章 模数转换器概述 | 第18-32页 |
| 2.1 模数转换器的分类和发展 | 第18-23页 |
| 2.1.1 模数转换器的分类 | 第18-19页 |
| 2.1.2 模数转换技术的发展历史 | 第19-20页 |
| 2.1.3 模数转换器的最新发展水平 | 第20-21页 |
| 2.1.4 模数转换器的发展趋势 | 第21-23页 |
| 2.2 全并行闪烁(Full-Flash) ADC | 第23-24页 |
| 2.3 两步结构(Flash & Subrange)ADC | 第24-25页 |
| 2.4 折叠(Folding) ADC | 第25-26页 |
| 2.5 插值(Interpolating) ADC | 第26-27页 |
| 2.6 流水线(Pipelined) ADC | 第27-28页 |
| 2.7 逐次逼近(Successive Approixmation) ADC | 第28-29页 |
| 2.8 交织结构(Time Interleaved) ADC | 第29-30页 |
| 2.9 过采样∑Δ ADC | 第30页 |
| 2.10 Algorithmic(or Cyclic) ADC | 第30-31页 |
| 2.11 积分(Integrating) ADC | 第31-32页 |
| 第3章 流水线 ADC 基本原理、误差分析与设计技术 | 第32-47页 |
| 3.1 流水线A/D的工作原理 | 第32-37页 |
| 3.1.1 流水线A/D的结构 | 第32-33页 |
| 3.1.2 流水线AD的工作原理 | 第33-35页 |
| 3.1.3 数字纠错技术 | 第35-37页 |
| 3.2 流水线A/D的误差来源分析 | 第37-44页 |
| 3.2.1 热噪声误差 | 第37-38页 |
| 3.2.2 比较器失调 | 第38-39页 |
| 3.2.3 DAC误差 | 第39-40页 |
| 3.2.4 增益误差 | 第40-41页 |
| 3.2.5 运放非线性误差 | 第41页 |
| 3.2.6 采样保持运放的建立误差 | 第41-42页 |
| 3.2.7 时钟抖动噪声 | 第42页 |
| 3.2.8 电荷注入和时钟溃通效应 | 第42-44页 |
| 3.3 Bootstraping 开关 | 第44-45页 |
| 3.4 Bottom-Plate Sampling | 第45-47页 |
| 第4章 电路设计及仿真 | 第47-77页 |
| 4.1 模数转换器的设计指标 | 第47页 |
| 4.2 电路整体结构和工作原理 | 第47-48页 |
| 4.3 时钟电路 | 第48-51页 |
| 4.3.1 八相互不重叠时钟电路结构 | 第49-50页 |
| 4.3.2 时钟时序仿真 | 第50-51页 |
| 4.4 MDAC | 第51-60页 |
| 4.4.1 工作原理 | 第51-52页 |
| 4.4.2 第一级流水线的SHA | 第52-53页 |
| 4.4.3 第二--九级流水线的MDAC | 第53-54页 |
| 4.4.4 Bootstraping CMOS模拟开关 | 第54-56页 |
| 4.4.5 Triple-Cascode全差分运算放大器和共模反馈 | 第56-58页 |
| 4.4.6 MDAC的仿真结果 | 第58-60页 |
| 4.5 动态比较器 | 第60-63页 |
| 4.5.1 1-bit动态比较器 | 第60-61页 |
| 4.5.2 1.5-bit动态差分比较器 | 第61-62页 |
| 4.5.3 动态差分比较器仿真结果 | 第62-63页 |
| 4.6 数字电路 | 第63-66页 |
| 4.6.1 温度计码转换电路 | 第63页 |
| 4.6.2 冗余位数字纠错电路 | 第63-64页 |
| 4.6.3 DAC查表电路 | 第64-65页 |
| 4.6.4 延迟对准寄存器阵列 | 第65-66页 |
| 4.6.5 三态输出级 | 第66页 |
| 4.7 基准电源 | 第66-74页 |
| 4.7.1 基准电源及外围电路结构 | 第66-67页 |
| 4.7.2 能隙基准电压源 | 第67-69页 |
| 4.7.3 电压放大及微调电路 | 第69-70页 |
| 4.7.4 OPAMP3 | 第70-71页 |
| 4.7.5 OPAMP2 | 第71-72页 |
| 4.7.6 OPAMP5 | 第72-73页 |
| 4.7.7 电流微调电路 | 第73页 |
| 4.7.8 基准电压源仿真波形 | 第73-74页 |
| 4.8 ADC总体性能仿真 | 第74-76页 |
| 4.8.1 fft分析 | 第74-75页 |
| 4.8.2 输入信号加斜波电压 | 第75-76页 |
| 4.8.3 输入信号加正弦的瞬态分析 | 第76页 |
| 4.9 总结 | 第76-77页 |
| 第5章 版图设计与封装 | 第77-82页 |
| 5.1 版图设计 | 第77-80页 |
| 5.1.1 匹配设计 | 第77-79页 |
| 5.1.2 抗干扰设计 | 第79页 |
| 5.1.3 其他考虑 | 第79页 |
| 5.1.4 ADC版图 | 第79-80页 |
| 5.2 封装设计 | 第80-81页 |
| 5.3 芯片连接说明 | 第81-82页 |
| 第6章 测试 | 第82-96页 |
| 6.1 ADC测试原理 | 第82-86页 |
| 6.1.1 静态参数测试原理 | 第82-85页 |
| 6.1.2 动态参数测试原理 | 第85-86页 |
| 6.2 ADC测试方案及测试系统设计 | 第86-91页 |
| 6.2.1 测试系统 | 第86-87页 |
| 6.2.2 单双端转换电路 | 第87-88页 |
| 6.2.3 A/D测试电路 | 第88页 |
| 6.2.4 片外参考电压生成电路 | 第88-89页 |
| 6.2.5 测试板电源 | 第89-90页 |
| 6.2.6 PCB板的设计 | 第90-91页 |
| 6.3 ADC测试数据及分析 | 第91-96页 |
| 6.3.1 静态特性 | 第91页 |
| 6.3.2 动态特性 | 第91-94页 |
| 6.3.3 总结 | 第94-96页 |
| 结论 | 第96-97页 |
| 参考文献 | 第97-100页 |
| 致 谢、声 明 | 第100-101页 |
| 附录1 | 第101-102页 |
| 附录2 | 第102-103页 |
| 个人简历﹑攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第103页 |
