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Si基GaAs异变外延及Si基InAs量子点的研究

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-20页
    1.1 研究背景第10-11页
    1.2 GaAs/Si异变外延难点第11-15页
    1.3 GaAs/Si异变外延进展第15-17页
    1.4 论文创新点第17页
    参考文献第17-20页
第二章 实验技术及设备简介第20-28页
    2.1 生长方法第20-23页
    2.2 表征方法第23-25页
    2.3 本章小结第25页
    参考文献第25-28页
第三章 GaAs/Si异变外延两步法生长第28-42页
    3.1 引言第28-31页
    3.2 衬底处理第31-32页
    3.3 高温层优化第32-33页
    3.4 低温缓冲层优化第33-39页
        3.4.1 低温缓冲层温度优化第33-34页
        3.4.2 低温缓冲层厚度优化第34-35页
        3.4.3 低温缓冲层材料优化第35-39页
    3.5 本章小结第39页
    参考文献第39-42页
第四章 GaAs/Si异变外延三步法生长第42-54页
    4.1 引言第42-43页
    4.2 三步法生长第43-44页
    4.3 插入循环退火第44-48页
    4.4 插入超晶格第48-52页
    4.5 本章小结第52页
    参考文献第52-54页
第五章 引入量子点位错阻挡层的GaAs/Si异变外延生长第54-72页
    5.1 背景第54-56页
    5.2 Si基量子点生长第56-65页
        5.2.1 Si基单层量子点生长第57-59页
        5.2.2 Si基多层量子点生长第59-63页
        5.2.3 与GaAs基量子点对比第63-65页
    5.3 以量子点为位错阻挡层的GaAs/Si异变外延生长第65-68页
    5.4 本章小结第68-69页
    参考文献第69-72页
第六章 总结与展望第72-74页
致谢第74-76页
攻读硕士学位期间发表的学术论文目录第76页

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