磁片表面缺陷检测技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.2 课题的目的和意义 | 第11页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第14-16页 |
| 第2章 表面缺陷检测的基本理论 | 第16-32页 |
| 2.1 图像的平滑处理算法 | 第16-21页 |
| 2.1.1 邻域平均法 | 第16-17页 |
| 2.1.2 低通滤波法 | 第17-19页 |
| 2.1.3 小波去噪算法 | 第19-21页 |
| 2.2 基于阈值的分割算法 | 第21-26页 |
| 2.2.1 最大类间方差法 | 第22-24页 |
| 2.2.2 矩量保持法 | 第24-25页 |
| 2.2.3 最小误差法 | 第25-26页 |
| 2.3 基于边缘检测的分割算法 | 第26-28页 |
| 2.3.1 Roberts算子 | 第26-27页 |
| 2.3.2 Sobel算子 | 第27页 |
| 2.3.3 Prewitt算子 | 第27-28页 |
| 2.4 图像的匹配算法 | 第28-31页 |
| 2.4.1 基于灰度模板的图像匹配 | 第28-29页 |
| 2.4.2 序贯相似性检测算法 | 第29页 |
| 2.4.3 基于Harris角点的图像匹配算法 | 第29-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 表面缺陷检测技术研究 | 第32-55页 |
| 3.1 磁片的模板定位和固定坐标系的创建 | 第32-40页 |
| 3.1.1 磁片的模板定位 | 第32-36页 |
| 3.1.2 磁片固定坐标系的创建 | 第36-40页 |
| 3.2 磁片的目标提取 | 第40-44页 |
| 3.2.1 最大类间方差法提取目标区域 | 第41-42页 |
| 3.2.2 Sobel算子提取目标区域 | 第42-43页 |
| 3.2.3 最大熵法提取目标区域 | 第43-44页 |
| 3.3 磁片的磕边检测 | 第44-51页 |
| 3.3.1 磁片直线边的检测 | 第44-49页 |
| 3.3.2 磁片圆角边的检测 | 第49-51页 |
| 3.4 磁片表面的麻点和划痕的检测 | 第51-53页 |
| 3.5 本章小结 | 第53-55页 |
| 第4章 磁片表面缺陷检测系统的设计与实现 | 第55-69页 |
| 4.1 硬件的选择 | 第55-57页 |
| 4.1.1 光源的选择 | 第55-56页 |
| 4.1.2 相机的选择 | 第56页 |
| 4.1.3 计算机的选择 | 第56-57页 |
| 4.2 软件的设计与实现 | 第57-67页 |
| 4.2.1 软件的前端界面设计 | 第57-59页 |
| 4.2.2 软件的后端设计 | 第59-67页 |
| 4.3 实验结果 | 第67-68页 |
| 4.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文及科研成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
