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SiC衬底上高质量GaN薄膜的外延生长及其发光器件制备研究

摘要第4-6页
Abstract第6-8页
第1章 绪论第12-36页
    1.1 研究背景和意义第12-13页
    1.2 GaN材料简介第13-15页
        1.2.1 GaN材料的基本性质第13-14页
        1.2.2 GaN材料的晶体结构第14-15页
        1.2.3 GaN材料的应用第15页
    1.3 GaN基发光器件的研究进展第15-28页
        1.3.1 GaN基绿光LEDs的研究进展第15-20页
        1.3.2 GaN基紫光LDs的研究进展第20-28页
    1.4 本论文的主要研究内容第28-30页
    参考文献第30-36页
第2章 III族氮化物材料制备及其表征方法第36-52页
    2.1 引言第36-37页
    2.2 MOCVD系统介绍第37-43页
        2.2.1 气体输运系统第38-40页
        2.2.2 反应室第40-41页
        2.2.3 原位监测系统第41-43页
    2.3 III族氮化物材料常用表征技术第43-51页
        2.3.1 X射线衍射(XRD)第44-45页
        2.3.2 原子力显微镜(AFM)第45-46页
        2.3.3 扫描电子显微镜(SEM)第46-47页
        2.3.4 光致发光谱(PL)第47-48页
        2.3.5 电致发光谱(EL)第48-49页
        2.3.6 拉曼光谱(Raman)第49-50页
        2.3.7 霍尔效应测试(Hall)第50-51页
    2.4 本章小结第51-52页
第3章 SiC衬底上高质量GaN薄膜的可控生长第52-148页
    3.1 引言第52-53页
    3.2 AlN缓冲层生长条件对GaN薄膜特性的影响第53-74页
        3.2.1 AlN缓冲层厚度对GaN薄膜特性的影响第53-62页
        3.2.2 AlN缓冲层生长温度对GaN薄膜特性的影响第62-68页
        3.2.3 AlN缓冲层V/III比对GaN薄膜特性的影响第68-74页
    3.3 渐变AlGaN缓冲层生长条件对GaN薄膜特性的影响第74-92页
        3.3.1 渐变AlGaN缓冲层生长温度对GaN薄膜特性的影响第74-80页
        3.3.2 渐变AlGaN缓冲层厚度对GaN薄膜特性的影响第80-85页
        3.3.3 渐变AlGaN缓冲层生长速率对GaN薄膜特性的影响第85-92页
    3.4 SiN_x插入层生长条件对GaN薄膜特性的影响第92-140页
        3.4.1 SiN_x插入层生长时间对GaN薄膜特性的影响第92-101页
        3.4.2 SiN_x插入层生长位置对GaN薄膜特性的影响第101-110页
        3.4.3 利用不同类型缓冲层和SiN_x插入层制备高质量GaN薄膜第110-118页
        3.4.4 SiN_x插入层生长时间对n-GaN薄膜特性的影响第118-130页
        3.4.5 SiN_x插入层生长位置对n-GaN薄膜特性的影响第130-140页
    3.5 本章小结第140-142页
    参考文献第142-148页
第4章 SiC衬底上GaN基绿光LEDs的制备研究第148-180页
    4.1 引言第148-149页
    4.2 GaN基水平结构绿光LEDs的制备研究第149-155页
        4.2.1 器件的制备流程第149-151页
        4.2.2 GaN基水平结构绿光LEDs的结构特性研究第151-152页
        4.2.3 GaN基水平结构绿光LEDs的光学和电学特性研究第152-155页
    4.3 带有n-InGaN/n-GaN超晶格应力缓解层的垂直结构绿光LEDs制备研究第155-163页
        4.3.1 器件的制备流程第157-158页
        4.3.2 GaN基垂直结构绿光LEDs的结构特性研究第158-160页
        4.3.3 GaN基垂直结构绿光LEDs的光学和电学特性研究第160-163页
    4.4 带有n-InGaN应力缓解层的垂直结构绿光LEDs制备研究第163-169页
        4.4.1 器件的制备流程第163-164页
        4.4.2 GaN基垂直结构绿光LEDs的结构特性研究第164-166页
        4.4.3 GaN基垂直结构绿光LEDs的光学和电学特性研究第166-169页
    4.5 带有n-AlGaN/n-GaN超晶格应力缓解层的垂直结构绿光LEDs制备研究第169-175页
        4.5.1 器件的制备流程第169页
        4.5.2 GaN基垂直结构绿光LEDs的结构特性研究第169-172页
        4.5.3 GaN基垂直结构绿光LEDs的光学和电学特性研究第172-175页
    4.6 本章小结第175-177页
    参考文献第177-180页
第5章 SiC衬底上垂直结构紫光LDs的制备及其特性研究第180-198页
    5.1 引言第180-181页
    5.2 无Al GaN上下限制层紫光LDs的制备及其特性研究第181-190页
        5.2.1 器件的制备流程第183-184页
        5.2.2 GaN基垂直结构紫光LDs的结构特性研究及其后工艺第184-189页
        5.2.3 GaN基垂直结构紫光LDs的激射特性分析第189-190页
    5.3 有Al GaN上下限制层紫光LDs的制备及其特性研究第190-195页
        5.3.1 器件的制备流程第190-191页
        5.3.2 GaN基垂直结构紫光LDs的结构特性研究及其后工艺第191-193页
        5.3.3 GaN基垂直结构紫光LDs的激射特性分析第193-195页
    5.4 本章小结第195-196页
    参考文献第196-198页
结论第198-204页
本论文的创新点第204-206页
攻读博士学位期间发表的学术论文第206-208页
致谢第208-209页

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