用于线阵CMOS图像传感器的高速大动态范围读出及量化电路设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 CMOS图像传感器概述 | 第8-10页 |
| 1.2 CIS读出量化电路的功能及国内外研究进展 | 第10-13页 |
| 1.3 选题的目的和意义 | 第13页 |
| 1.4 本文的内容安排 | 第13-15页 |
| 第二章 用于线阵CMOS图像传感器读出电路的研究 | 第15-31页 |
| 2.1 读出单元结构 | 第15-18页 |
| 2.2 动态范围扩展技术 | 第18-21页 |
| 2.3 适用于线阵CIS中的常用列级ADC | 第21-24页 |
| 2.3.1 逐次逼近寄存器型ADC | 第22页 |
| 2.3.2 循环ADC | 第22-23页 |
| 2.3.3 单斜式ADC | 第23页 |
| 2.3.4 三种列级ADC架构的性能比较 | 第23-24页 |
| 2.4 适用于列级ADC的TDC结构分析 | 第24-28页 |
| 2.5 基于TDC技术的列级ADC架构与原理 | 第28-30页 |
| 2.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 高速大动态范围读出电路的设计 | 第31-53页 |
| 3.1 线阵图像传感器架构 | 第31-32页 |
| 3.2 电容反馈跨导放大器(CTIA) | 第32-35页 |
| 3.2.1 失调电压消除 | 第32-34页 |
| 3.2.2 动态范围扩展 | 第34-35页 |
| 3.3 读出电路实现 | 第35-41页 |
| 3.3.1 OPA的设计 | 第36-38页 |
| 3.3.2 比较器及逻辑控制电路设计 | 第38-41页 |
| 3.4 基于两步TDC的列级ADC设计 | 第41-49页 |
| 3.4.1 ATC的设计 | 第41-43页 |
| 3.4.2 TDC的设计 | 第43-45页 |
| 3.4.3 TDC中DLL的设计 | 第45-49页 |
| 3.5 延时误差及其校正 | 第49-52页 |
| 3.6 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 版图设计与仿真分析 | 第53-60页 |
| 4.1 版图设计 | 第53-54页 |
| 4.2 仿真分析 | 第54-58页 |
| 4.2.1 读出电路仿真分析 | 第54-55页 |
| 4.2.2 ADC仿真分析 | 第55-58页 |
| 4.3 本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 工作总结 | 第60-61页 |
| 5.2 工作展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
