| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外的研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 国外的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内的研究现状 | 第11页 |
| 1.3 课题来源及主要研究内容 | 第11-12页 |
| 1.4 本文章节安排 | 第12-13页 |
| 第2章 测试系统方案设计 | 第13-17页 |
| 2.1 测试系统的需求分析 | 第13-14页 |
| 2.1.1 测试系统功能需求 | 第13页 |
| 2.1.2 测试系统功能和技术指标 | 第13-14页 |
| 2.2 测试系统技术方案 | 第14-15页 |
| 2.3 测试系统工作流程 | 第15-16页 |
| 2.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 第3章 测试系统基本原理 | 第17-31页 |
| 3.1 电阻测量方法 | 第17-20页 |
| 3.1.1 恒流源测压法 | 第17-18页 |
| 3.1.2 开尔文电桥法 | 第18页 |
| 3.1.3 恒压源测压法 | 第18-19页 |
| 3.1.4 电容充电法 | 第19-20页 |
| 3.1.5 电阻测量方法分析与选择 | 第20页 |
| 3.2 噪声与干扰分析 | 第20-24页 |
| 3.2.1 电子器件内部的固有噪声源 | 第21-23页 |
| 3.2.2 直流误差源 | 第23-24页 |
| 3.3 电流倒向技术 | 第24-25页 |
| 3.4 微弱信号测量 | 第25-29页 |
| 3.4.1 非线性理论检测方法 | 第26页 |
| 3.4.2 Duffing振子的特性分析 | 第26-29页 |
| 3.4.3 Duffing振子微弱信号检测原理 | 第29页 |
| 3.5 虚拟仪器LabVIEW在微弱信号检测中应用 | 第29-30页 |
| 3.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 系统硬件设计 | 第31-42页 |
| 4.1 交流源电路分析 | 第31-35页 |
| 4.2 恒压电路分析 | 第35-36页 |
| 4.3 电流倒向技术硬件实现 | 第36-37页 |
| 4.4 数据采集模块设计 | 第37-39页 |
| 4.5 通道切换设计 | 第39-40页 |
| 4.5.1 I/O口拓展电路 | 第39页 |
| 4.5.2 驱动电路 | 第39-40页 |
| 4.6 漏电流抑制电路 | 第40-41页 |
| 4.7 本章小结 | 第41-42页 |
| 第5章 系统软件设计 | 第42-53页 |
| 5.1 下位机功能程序设计 | 第42-45页 |
| 5.1.1 系统初始化 | 第43页 |
| 5.1.2 设备检定设计 | 第43-44页 |
| 5.1.3 档位切换设计 | 第44-45页 |
| 5.2 上位机测试软件设计 | 第45-50页 |
| 5.2.1 功能模块及测试流程 | 第46-48页 |
| 5.2.2 数据接收与解析处理 | 第48页 |
| 5.2.3 数据存储与打印设计 | 第48-50页 |
| 5.3 Duffing振子检测系统的程序设计 | 第50-52页 |
| 5.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第6章 结果及分析 | 第53-59页 |
| 6.1 测试系统实际测试 | 第53-54页 |
| 6.2 仿真结果与测量分析 | 第54-58页 |
| 6.2.1 Duffing振子测量幅值的LabVIEW仿真 | 第54-56页 |
| 6.2.2 实物验证 | 第56-57页 |
| 6.2.3 结果比较分析 | 第57-58页 |
| 6.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 第7章 总结与展望 | 第59-60页 |
| 7.1 总结 | 第59页 |
| 7.2 展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录A 实物图 | 第64-66页 |
| 在校期间发表的学术论文与研究成果 | 第66页 |