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印制电路板尺寸检测方法优化设计与实现

中文摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第10-13页
    1.1 课题的研究背景及其意义第10页
    1.2 国内外研究现状及发展趋势第10-12页
        1.2.1 国内外研究现状第10-12页
        1.2.2 发展趋势及应用前景第12页
    1.3 本文的研究内容与结构第12-13页
第二章 自动光学检测技术分析第13-16页
    2.1 自动光学检测系统的组成第13-14页
    2.2 自动光学检测关键技术第14-15页
        2.2.1 光源照明第14页
        2.2.2 光学镜头第14页
        2.2.3 成像技术第14页
        2.2.4 图像信号处理第14-15页
    2.3 本章小结第15-16页
第三章 系统方案及算法第16-34页
    3.1 系统设计目标及主要任务第16页
    3.2 拟解决的关键问题第16-17页
    3.3 图像平滑处理算法第17-21页
        3.3.1 图像噪声的均值滤波算法第18-19页
        3.3.2 边界保持类平滑滤波方法第19-21页
    3.4 图像二值化第21-23页
        3.4.1 基于灰度直方图的峰谷方法第22页
        3.4.2 百分比阈值法第22页
        3.4.3 类间最大距离法第22-23页
        3.4.4 聚类方法第23页
        3.4.5 局部阈值方法第23页
    3.5 图像区域提取方法第23-24页
        3.5.1 区域生长法第24页
        3.5.2 区域合并分裂法第24页
    3.6 图像匹配算法第24-27页
        3.6.1 图像平移第24-25页
        3.6.2 图像镜像第25-26页
        3.6.3 图像旋转第26页
        3.6.4 图像缩放第26-27页
    3.7 边界提取第27-29页
        3.7.1 拉普拉斯微分算子第28-29页
        3.7.2 Wallis微分算子第29页
    3.8 拟合直线及圆弧第29-31页
        3.8.1 最小二乘法拟合直线第29-30页
        3.8.2 最小二乘法拟合圆弧第30-31页
    3.9 外形偏差的分析算法第31-33页
        3.9.1 针对直线,需要分析的数据有偏移和角度差第31页
        3.9.2 针对圆弧,需要分析的数据有偏移和半径差第31-32页
        3.9.3 CPK的计算第32-33页
    3.10 本章小结第33-34页
第四章 检测方法的设计与实现第34-56页
    4.1 系统组成第34-35页
    4.2 图像输入输出方法及数据表示第35页
    4.3 客户原始资料的表示第35-36页
    4.4 图像转灰阶化第36-37页
    4.5 图像平滑操作第37-39页
    4.6 图像二值化第39-41页
    4.7 图像分割第41-43页
    4.8 匹配定位孔选取第43-45页
    4.9 客户图像与扫描图像的匹配第45-48页
    4.10 产生图像边界第48-50页
    4.11 拟合直线,圆弧第50-51页
    4.12 测量偏移值并输出结果第51-52页
        4.12.1 偏移值第52页
        4.12.2 角度差或半径差第52页
        4.12.3 CPK的计算第52页
        4.12.4 偏移值和CPK可以使用正态分布图表示第52页
    4.13 软件检测系统第52-55页
    4.14 本章小结第55-56页
第五章 软件调试及结果分析第56-60页
    5.1 测试方法及测试要求第56页
        5.1.1 测试方法第56页
        5.1.2 测试要求第56页
    5.2 测试结果第56-59页
        5.2.1 速度测试第56-57页
        5.2.2 精度测试第57-58页
        5.2.3 不同量测方式数据比较第58-59页
    5.3 本章小结第59-60页
第六章 总结和展望第60-62页
    6.1 总结第60页
    6.2 展望第60-62页
参考文献第62-65页
致谢第65页

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