HgCdTe e-APD主被动读出电路设计
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-30页 |
| ·红外光电探测器 | 第11-13页 |
| ·第三代红外成像探测器 | 第11-12页 |
| ·碲镉汞红外探测器 | 第12-13页 |
| ·碲镉汞雪崩光电二极管的应用前景及发展现状 | 第13-23页 |
| ·碲镉汞雪崩光电二极管 | 第13-14页 |
| ·碲镉汞雪崩光电二极管的应用前景 | 第14-18页 |
| ·碲镉汞雪崩光电二极管的发展 | 第18-23页 |
| ·碲镉汞雪崩光电二极管读出电路 | 第23-27页 |
| ·读出电路概述 | 第23-24页 |
| ·碲镉汞 APD 读出电路现状 | 第24-27页 |
| ·本文研究的目的 | 第27页 |
| ·论文研究内容及创新点概要 | 第27-28页 |
| ·论文的结构 | 第28-30页 |
| 第二章 碲镉汞 APD 和读出电路原理 | 第30-53页 |
| ·碲镉汞 APD 原理 | 第30-38页 |
| ·雪崩效应 | 第30-33页 |
| ·APD 探测器信噪比 | 第33-34页 |
| ·碲镉汞 APD 离化系数 | 第34-36页 |
| ·碲镉汞雪崩光电二极管的结构 | 第36-38页 |
| ·读出电路原理 | 第38-53页 |
| ·ROIC 前置放大器结构 | 第39-43页 |
| ·HgCdTe e-APD ROIC 输入级结构 | 第43-46页 |
| ·采样和保持 | 第46-47页 |
| ·信号数字化 | 第47-53页 |
| 第三章 碲镉汞 APD 小信号模型 | 第53-58页 |
| ·常规探测器电路模型 | 第53-54页 |
| ·APD 电路模型 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第四章 碲镉汞 APD 读出电路设计 | 第58-91页 |
| ·基本电路设计 | 第58-76页 |
| ·电路总体框图 | 第58-60页 |
| ·单元电路 | 第60-70页 |
| ·单元电路仿真 | 第70-72页 |
| ·列共用电路 | 第72-74页 |
| ·输出驱动 | 第74-76页 |
| ·过饱和保护 | 第76-85页 |
| ·输入端检测改进电路 | 第78-81页 |
| ·输出端检测改进电路 | 第81-85页 |
| ·雪崩击穿高压保护 | 第85-90页 |
| ·雪崩击穿保护原理 | 第87-89页 |
| ·雪崩击穿保护完整电路 | 第89-90页 |
| ·测试芯片 | 第90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 第五章 读出电路版图设计 | 第91-100页 |
| ·版图设计平台 | 第91-92页 |
| ·版图整体布局 | 第92页 |
| ·版图设计 | 第92-99页 |
| ·单元版图 | 第93-95页 |
| ·列共用放大器版图 | 第95-96页 |
| ·输出驱动放大器版图 | 第96页 |
| ·PAD 版图 | 第96-98页 |
| ·测试芯片整体版图 | 第98-99页 |
| ·本章小结 | 第99-100页 |
| 第六章 读出电路测试 | 第100-130页 |
| ·测试平台 | 第100-103页 |
| ·电路流片方案 | 第103-107页 |
| ·电路一 | 第104页 |
| ·电路二 | 第104-105页 |
| ·电路三 | 第105-106页 |
| ·测试方案 | 第106-107页 |
| ·电路一测试结果 | 第107-114页 |
| ·光电流积分功能测试 | 第107-111页 |
| ·过饱和保护功能测试 | 第111-114页 |
| ·电路二测试结果 | 第114-120页 |
| ·光电流积分功能测试 | 第114-119页 |
| ·过饱和保护功能测试 | 第119页 |
| ·雪崩击穿高压保护功能测试 | 第119-120页 |
| ·电路三测试结果 | 第120-126页 |
| ·光电流积分功能测试 | 第120-125页 |
| ·过饱和保护功能测试 | 第125页 |
| ·雪崩击穿高压保护功能测试 | 第125-126页 |
| ·读出速率测试结果 | 第126页 |
| ·本章小结 | 第126-130页 |
| 第七章 Sigma-deltaADC 设计 | 第130-149页 |
| ·Sigma-delta ADC 设计目标 | 第130页 |
| ·调制器设计 | 第130-145页 |
| ·调制器稳定性 | 第130-134页 |
| ·三阶 2-1 MASH 结构调制器设计 | 第134-137页 |
| ·MATLAB 仿真 | 第137-140页 |
| ·调制器闪烁噪声 | 第140-142页 |
| ·调制器失配分析 | 第142-143页 |
| ·调制器电路实现 | 第143-145页 |
| ·数字抽取滤波器设计 | 第145-148页 |
| ·寄存器位数设计 | 第145-148页 |
| ·本章小结 | 第148-149页 |
| 第八章 总结与展望 | 第149-151页 |
| ·工作总结 | 第149-150页 |
| ·工作展望 | 第150-151页 |
| 参考文献 | 第151-157页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第157-158页 |
| 附录 A | 第158-160页 |
| 附录 B | 第160-161页 |
