基于循环差集的存储系统容错编码研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·问题背景 | 第9页 |
| ·存储系统的参数及影响 | 第9-11页 |
| ·系统可靠性 | 第9-10页 |
| ·系统的冗余度 | 第10页 |
| ·更新复杂度 | 第10页 |
| ·编码计算复杂度 | 第10-11页 |
| ·本文的工作 | 第11页 |
| ·本文的结构 | 第11-13页 |
| 第二章 容错存储系统和RAID介绍 | 第13-19页 |
| ·存储系统的原理及问题分析 | 第13-14页 |
| ·存储系统中的失效模型和处理机制 | 第14-15页 |
| ·RAID | 第15-19页 |
| ·基本原理 | 第15-16页 |
| ·RAID级别 | 第16-19页 |
| 第三章 容错编码理论及表现形式 | 第19-34页 |
| ·编码理论基础知识 | 第19-21页 |
| ·线性分组编码 | 第19页 |
| ·生成矩阵和校验矩阵 | 第19-20页 |
| ·码的容错能力 | 第20页 |
| ·多项式码 | 第20页 |
| ·循环码 | 第20-21页 |
| ·Singleton界与MDS码 | 第21页 |
| ·阵列码的表示形式 | 第21-23页 |
| ·Tanner图形式 | 第21-22页 |
| ·图表形式 | 第22页 |
| ·矩阵表示 | 第22-23页 |
| ·多容错编码与数据读写 | 第23-24页 |
| ·主要的多容错编码 | 第24-32页 |
| ·EVENODD码 | 第24-27页 |
| ·Reed-Solomon码 | 第27-29页 |
| ·最低密度编码X码 | 第29-30页 |
| ·STAR码 | 第30-31页 |
| ·HoVer码 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-34页 |
| 第四章 WEAVER码的构造及性能分析 | 第34-40页 |
| ·WEAVER码的构造 | 第34-37页 |
| ·基本术语 | 第34页 |
| ·WEAVER码的构造方法 | 第34-37页 |
| ·WEAVER码的容错能力 | 第37-38页 |
| ·WEAVER码的特征 | 第38-40页 |
| 第五章 循环差集码的构造 | 第40-49页 |
| ·循环差集 | 第40-46页 |
| ·名词定义和符号描述 | 第40页 |
| ·奇特的珍珠 | 第40-43页 |
| ·独立差集的构造 | 第43-46页 |
| ·循环差集码的构造 | 第46-48页 |
| ·小结 | 第48-49页 |
| 第六章 循环差集码的性质分析 | 第49-55页 |
| ·容错性能 | 第49-51页 |
| ·双容错 | 第49-50页 |
| ·w容错 | 第50-51页 |
| ·存储效率和I/O性能 | 第51-52页 |
| ·扩展性上的研究 | 第52-55页 |
| 第七章 总结 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
