第1章 绪论 | 第1-12页 |
·问题背景 | 第10-11页 |
·论文组织 | 第11-12页 |
第2章 集成电路芯片设计的主要验证方法 | 第12-31页 |
·集成电路的设计方法 | 第12-13页 |
·前端验证 | 第13-27页 |
·功能验证 | 第13-14页 |
·功能验证的目的、作用及面临的主要问题 | 第14-15页 |
·前端验证的一般方法 | 第15-21页 |
·基于仿真的验证流程 | 第15-19页 |
·形式验证 | 第19-21页 |
·Testbench | 第21-24页 |
·行为级和寄存器传输级 | 第21-22页 |
·结构化的testbench | 第22-24页 |
·参考模型 | 第24-27页 |
·什么是参考模型 | 第24-25页 |
·参考模型的设计 | 第25-26页 |
·自动生成测试向量 | 第26-27页 |
·后端验证 | 第27-30页 |
·前仿真和后仿真 | 第27-29页 |
·逻辑延迟时间 | 第29页 |
·门级网表 | 第29-30页 |
·构建后仿真环境 | 第30页 |
·小结 | 第30-31页 |
第3章 微控制器HR6P73PGDA的系统应用与模块分析 | 第31-38页 |
·HR6P73PGDA的系统功能介绍 | 第31-34页 |
·HR6P73PGDA的内核特征 | 第31-34页 |
·HR6P73PGDA的外设特性 | 第34页 |
·HR6P73PGDA的内部各模块分析 | 第34-37页 |
·小结 | 第37-38页 |
第4章 8位CMOS微控制器HR6P73PGDA的验证 | 第38-60页 |
·Modelsim、Debussy软件的功能介绍与使用 | 第38-39页 |
·Modelsim软件使用简介 | 第38页 |
·Debussy软件使用简介 | 第38-39页 |
·8位CMOS微控制器芯片的汇编指令集的使用 | 第39-41页 |
·SSP模块在I2C模式下的设计验证 | 第41-59页 |
·测试程序编写 | 第41-49页 |
·testbench的编写 | 第49-58页 |
·仿真调试 | 第58-59页 |
·小结 | 第59-60页 |
第5章 总结 | 第60-61页 |
·论文的主要工作 | 第60页 |
·进一步的工作设想 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
致谢 | 第64页 |