晶圆表面微观形貌检测系统的实现及控制
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第1章 绪论 | 第7-13页 |
·课题背景和研究目的 | 第7-8页 |
·系统界面设计概述 | 第8-9页 |
·系统需求分析及可行性分析 | 第9-12页 |
·本论文的主要内容 | 第12-13页 |
第2章 系统实现原理 | 第13-17页 |
·表面形貌的微分干涉光学测量 | 第13-14页 |
·微分相移干涉显微测量原理 | 第14-15页 |
·干涉图像处理 | 第15-16页 |
·本章小结 | 第16-17页 |
第3章 晶圆表面微观形貌检测系统界面设计 | 第17-28页 |
·引言 | 第17-18页 |
·Visual C++语言简介 | 第18页 |
·系统界面的设计与实现 | 第18-25页 |
·需求分析及功能设计 | 第18-20页 |
·系统各界面的具体实现及效果 | 第20-25页 |
·控件窗口简介 | 第25-27页 |
·CButton 类 | 第26页 |
·编辑控件及静态控件 | 第26-27页 |
·本章小结 | 第27-28页 |
第4章 系统数据库设计 | 第28-37页 |
·引言 | 第28-30页 |
·数据库的主要特点 | 第28-29页 |
·主流数据库简介 | 第29-30页 |
·晶圆表面微观形貌检测系统数据库设计与实现 | 第30-33页 |
·Access 的集成开发环境 | 第31-32页 |
·Access 中表的创建及使用 | 第32-33页 |
·ADO 数据库访问技术 | 第33-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第5章 系统集成及检验结果 | 第37-49页 |
·晶圆形貌检测系统集成 | 第37-40页 |
·微分剪切干涉光路的调整 | 第37-39页 |
·光路调整中的辅助方法介绍 | 第39-40页 |
·系统评估版测量仪器的制作 | 第40-43页 |
·系统用于样品检测及检验结果 | 第43-48页 |
·采用五步相移法进行相位提取 | 第45-46页 |
·样品表面形貌重构 | 第46-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
总结与展望 | 第49-51页 |
参考文献 | 第51-56页 |
致谢 | 第56页 |