| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第9-13页 |
| 1.1 选题依据及研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 研究现状与存在问题 | 第10-12页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 研究内容和创新点 | 第12-13页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第12页 |
| 1.3.2 主要创新点 | 第12-13页 |
| 第2章 基本原理 | 第13-22页 |
| 2.1 海底原位X射线荧光探测 | 第13-18页 |
| 2.1.1 海底原位X射线荧光探测系统 | 第13页 |
| 2.1.2 海底原位X射线荧光探测工作原理 | 第13-18页 |
| 2.2 蒙特卡罗方法简介 | 第18-22页 |
| 2.2.1 蒙特卡罗方法基本思想 | 第18-19页 |
| 2.2.2 MCNP程序简介 | 第19-22页 |
| 第3章 理论分析 | 第22-33页 |
| 3.1 X光管工作电压的影响 | 第22-23页 |
| 3.2 “源-样-探”的几何结构分析 | 第23-26页 |
| 3.2.1 “源-样-探”角度研究 | 第23-25页 |
| 3.2.2 “源-样-探”距离研究 | 第25-26页 |
| 3.3 海底原位X荧光分析中探测窗的影响 | 第26-28页 |
| 3.3.1 探测窗安全厚度计算 | 第26页 |
| 3.3.2 探测窗厚度的影响及校正 | 第26-27页 |
| 3.3.3 探测窗杂质的影响及校正 | 第27-28页 |
| 3.4 海底原位X射线荧光探测中水分效应的研究 | 第28-33页 |
| 3.4.1 样品内部水的影响及对策 | 第28-30页 |
| 3.4.2 样品外水层的影响及对策 | 第30-33页 |
| 第4章 蒙特卡罗模拟 | 第33-39页 |
| 4.1 最佳激发电压的模拟 | 第33-34页 |
| 4.2 最佳探测装置的模拟 | 第34-35页 |
| 4.2.1 “源-样-探”角度模拟 | 第34-35页 |
| 4.2.2 “源-样-探”距离模拟 | 第35页 |
| 4.3 探测窗的模拟 | 第35-37页 |
| 4.3.1 目标元素特征X射线在不同探测窗厚度下的透过情况模拟 | 第36页 |
| 4.3.2 有无探测窗时目标元素特征X射线强度的模拟 | 第36-37页 |
| 4.3.3 探测窗中杂质的模拟 | 第37页 |
| 4.4 水分效应的模拟 | 第37-39页 |
| 4.4.1 样品内部水 | 第38页 |
| 4.4.2 样品外水层 | 第38-39页 |
| 第5章 模拟结果与分析 | 第39-59页 |
| 5.1 最佳激发电压模拟结果与分析 | 第39-40页 |
| 5.2 探测装置模拟结果与分析 | 第40-47页 |
| 5.2.1 最佳“源-样-探”角度 | 第40-44页 |
| 5.2.2 最佳“源-样-探”距离 | 第44-47页 |
| 5.3 探测窗模拟结果与分析 | 第47-52页 |
| 5.3.1 探测窗厚度的确定 | 第47-48页 |
| 5.3.2 有无探测窗时目标元素特征X射线强度与其含量的关系 | 第48-50页 |
| 5.3.3 探测窗中杂质的影响及校正 | 第50-52页 |
| 5.4 水分效应的模拟结果与分析 | 第52-59页 |
| 5.4.1 样品内部水校正 | 第52-54页 |
| 5.4.2 样品外水层校正 | 第54-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第64页 |
