| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.3 课题研究的目的及内容 | 第12-13页 |
| 1.3.1 研究目的 | 第13页 |
| 1.3.2 研究内容 | 第13页 |
| 1.4 小结 | 第13-14页 |
| 2 APS 辐射效应分析 | 第14-26页 |
| 2.1 器件辐射效应 | 第14-16页 |
| 2.1.1 辐射引入界面态效应 | 第14-15页 |
| 2.1.2 辐射引入氧化层电荷 | 第15-16页 |
| 2.2 建模及仿真 | 第16-19页 |
| 2.2.1 器件模型的构建 | 第16-18页 |
| 2.2.2 辐射效应仿真 | 第18-19页 |
| 2.3 抗辐射加固 | 第19-23页 |
| 2.3.1 抗辐射工艺加固 | 第19-21页 |
| 2.3.2 抗辐射版图加固 | 第21-23页 |
| 2.4 小结 | 第23-26页 |
| 3 CMOS APS 结构分析 | 第26-42页 |
| 3.1 CMOS 图像传感器分类 | 第26-34页 |
| 3.1.1 无源像素图像传感器（Passive Pixel Sensor, PPS） | 第26-30页 |
| 3.1.2 有源像素图像传感器（Active Pixel Sensor，APS） | 第30-34页 |
| 3.2 图像传感器设计 | 第34-40页 |
| 3.2.1 像元结构选择 | 第34页 |
| 3.2.2 相关双采样电路( Correlated Double Sampling，CDS) | 第34-36页 |
| 3.2.3 像元整体结构及仿真 | 第36-40页 |
| 3.3 小结 | 第40-42页 |
| 4 数字控制信号产生 | 第42-52页 |
| 4.1 FPGA 开发 | 第42-43页 |
| 4.2 控制信号分析 | 第43-45页 |
| 4.3 时序信号产生 | 第45-48页 |
| 4.4 时序约束 | 第48-51页 |
| 4.5 小结 | 第51-52页 |
| 5 版图设计 | 第52-66页 |
| 5.1 模拟版图设计与验证 | 第52-59页 |
| 5.1.1 模拟版图设计 | 第52-54页 |
| 5.1.2 模拟版图验证 | 第54-56页 |
| 5.1.3 静电防护设计 | 第56-58页 |
| 5.1.4 模拟版图参数后仿 | 第58-59页 |
| 5.2 数字版图设计 | 第59-62页 |
| 5.2.1 数字电路设计综合 | 第60-61页 |
| 5.2.2 自动布局布线 | 第61-62页 |
| 5.3 像元阵列拼接 | 第62-65页 |
| 5.4 小结 | 第65-66页 |
| 6 X 射线透视成像实验 | 第66-76页 |
| 6.1 X 射线透视成像实验装置设计 | 第66-69页 |
| 6.2 LabVIEW 数据采集系统设计 | 第69-72页 |
| 6.3 初步实验结果验证 | 第72-74页 |
| 6.4 小结 | 第74-76页 |
| 7 总结与展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 附录 | 第84页 |
| A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第84页 |
