摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
1 绪论 | 第12-25页 |
1.1 引言 | 第12-13页 |
1.2 多铁性铁酸铋材料 | 第13-15页 |
1.2.1 BiFeO_3的结构 | 第13-14页 |
1.2.2 BiFeO_3的铁电性 | 第14-15页 |
1.2.3 BiFeO_3的铁磁性 | 第15页 |
1.3 铁酸锌镍简介 | 第15-17页 |
1.4 铁酸铋材料的研究进展 | 第17-24页 |
1.4.1 离子掺杂铁酸铋的研究现状 | 第17-21页 |
1.4.2 铁酸铋/磁性铁氧体复合薄膜的研究现状 | 第21-24页 |
1.5 本论文的研究意义及内容 | 第24-25页 |
2 实验 | 第25-32页 |
2.1 实验原料及主要设备 | 第25页 |
2.2 实验工艺 | 第25-27页 |
2.3 薄膜的表征和性能测试 | 第27-32页 |
2.3.1 薄膜的物相结构表征分析 | 第27-29页 |
2.3.2 薄膜的微观形貌表征 | 第29页 |
2.3.3 薄膜的阻抗和电容性能测试 | 第29页 |
2.3.4 薄膜的化学成分表征 | 第29页 |
2.3.5 薄膜的漏电流测试 | 第29-30页 |
2.3.6 薄膜的铁电性能测试 | 第30-31页 |
2.3.7 薄膜的铁磁性能测试 | 第31-32页 |
3 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)Sr_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3薄膜的制备及性能研究 | 第32-44页 |
3.1 引言 | 第32页 |
3.2 样品制备 | 第32-33页 |
3.3 结果分析及讨论 | 第33-43页 |
3.3.1 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)Sr_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3薄膜的结构分析 | 第33-36页 |
3.3.2 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)Sr_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3薄膜的形貌分析 | 第36-37页 |
3.3.3 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)Sr_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3薄膜的XPS分析 | 第37-39页 |
3.3.4 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)Sr_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3薄膜的漏电流分析 | 第39-40页 |
3.3.5 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)Sr_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3薄膜的铁电性能分析 | 第40-42页 |
3.3.6 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)Sr_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3薄膜的铁磁性能分析 | 第42-43页 |
3.4 本章小结 | 第43-44页 |
4 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)A_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3/Zn_(0.5)Ni_(0.5)Fe_2O_4薄膜的制备及性能研究 | 第44-63页 |
4.1 引言 | 第44页 |
4.2 样品制备 | 第44-45页 |
4.3 结果分析及讨论 | 第45-62页 |
4.3.1 Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的结构分析 | 第45-48页 |
4.3.2 Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的铁磁性能分析 | 第48-49页 |
4.3.3 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)A_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3/Zn_(0.5)Ni_(0.5)Fe_2O_4薄膜的结构分析 | 第49-53页 |
4.3.4 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)A_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3/Zn_(0.5)Ni_(0.5)Fe_2O_4薄膜的形貌和阻抗分析 | 第53-54页 |
4.3.5 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)A_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3/Zn_(0.5)Ni_(0.5)Fe_2O_4薄膜的漏电流分析 | 第54-57页 |
4.3.6 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)A_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3/Zn_(0.5)Ni_(0.5)Fe_2O_4薄膜的XPS分析 | 第57-58页 |
4.3.7 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)A_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3/Zn_(0.5)Ni_(0.5)Fe_2O_4薄膜的界面和铁电性能分析 | 第58-61页 |
4.3.8 Bi_(0.92-x)Ho_(0.08)A_xFe_(0.97)Mn_(0.03)O_3/Zn_(0.5)Ni_(0.5)Fe_2O_4薄膜的铁磁性能分析 | 第61-62页 |
4.4 本章小结 | 第62-63页 |
5 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.97-x)Mn_(0.03)Zn_xO_3薄膜的制备及性能研究 | 第63-74页 |
5.1 引言 | 第63页 |
5.2 样品制备 | 第63页 |
5.3 结果分析及讨论 | 第63-73页 |
5.3.1 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.97-x)Mn_(0.03)Zn_xO_3薄膜的结构分析 | 第63-65页 |
5.3.2 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.97-x)Mn_(0.03)Zn_xO_3薄膜的形貌分析 | 第65-66页 |
5.3.3 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.97-x)Mn_(0.03)Zn_xO_3薄膜的XPS分析 | 第66-67页 |
5.3.4 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.97-x)Mn_(0.03)Zn_xO_3薄膜的漏电流分析 | 第67-69页 |
5.3.5 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.97-x)Mn_(0.03)Zn_xO_3薄膜的铁电性能分析 | 第69-71页 |
5.3.6 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.97-x)Mn_(0.03)Zn_xO_3薄膜的电容性能分析 | 第71-72页 |
5.3.7 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.97-x)Mn_(0.03)Zn_xO_3薄膜的铁磁性能分析 | 第72-73页 |
5.4 本章小结 | 第73-74页 |
6 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.95)Mn_(0.03)Zn_(0.02)O_3/Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的制备及性能研究 | 第74-90页 |
6.1 引言 | 第74页 |
6.2 样品制备 | 第74-75页 |
6.3 结果分析及讨论 | 第75-88页 |
6.3.1 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.95)Mn_(0.03)Zn_(0.02)O_3/Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的结构分析 | 第75-79页 |
6.3.2 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.95)Mn_(0.03)Zn_(0.02)O_3/Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的形貌分析 | 第79-80页 |
6.3.3 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.95)Mn_(0.03)Zn_(0.02)O_3/Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的漏电流分析 | 第80-83页 |
6.3.4 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.95)Mn_(0.03)Zn_(0.02)O_3/Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的半导体特性 | 第83-85页 |
6.3.5 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.95)Mn_(0.03)Zn_(0.02)O_3/Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的铁电性能分析 | 第85-86页 |
6.3.6 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.95)Mn_(0.03)Zn_(0.02)O_3/Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的电容性能分析 | 第86-88页 |
6.3.7 Bi_(0.89)Ho_(0.08)Sr_(0.03)Fe_(0.95)Mn_(0.03)Zn_(0.02)O_3/Zn_(1-x)Ni_xFe_2O_4薄膜的铁磁性能分析 | 第88页 |
6.4 本章小结 | 第88-90页 |
7 结论与展望 | 第90-92页 |
7.1 主要结论 | 第90-91页 |
7.2 工作展望 | 第91-92页 |
致谢 | 第92-93页 |
参考文献 | 第93-102页 |
攻读学位期间的学术成果 | 第102-104页 |