半导体制造企业的质量控制
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 前言 | 第9-11页 |
| 第1章 质量管理理论 | 第11-17页 |
| 1.1 质量理论 | 第11-13页 |
| 1.1.1 质量 | 第11-12页 |
| 1.1.2 质量观念的发展 | 第12-13页 |
| 1.2 质量管理观念的发展 | 第13-17页 |
| 第2章 质量控制方法 | 第17-28页 |
| 2.1 统计制程控制 | 第17-21页 |
| 2.1.1 什么是统计制程控制 | 第17-18页 |
| 2.1.2 SPC 控制图应用及计算 | 第18-20页 |
| 2.1.3 SPC 控制图的实施 | 第20页 |
| 2.1.4 SPC 的发展特点及好处 | 第20-21页 |
| 2.2 失效模式和效果分析 | 第21-23页 |
| 2.2.1 什么是失效模式和效果分析 | 第21-22页 |
| 2.2.2 FMEA 的内容 | 第22-23页 |
| 2.2.3 使用FMEA 的好处 | 第23页 |
| 2.3 持续质量改善 | 第23-25页 |
| 2.3.1 什么是 PDCA | 第23-24页 |
| 2.3.2 PDCA 循环的特点 | 第24-25页 |
| 2.4 零缺陷管理 | 第25-28页 |
| 2.4.1 什么是零缺陷管理 | 第25-26页 |
| 2.4.2 零缺陷管理的基本内涵和基本原则 | 第26页 |
| 2.4.3 零缺陷管理的执行 | 第26-28页 |
| 第3章 半导体制造业质量控制现状和问题探讨 | 第28-41页 |
| 3.1 世界半导体制造的发展 | 第28-36页 |
| 3.1.1 半导体产业的发展状况 | 第28页 |
| 3.1.2 全球半导体制造产业现状分析 | 第28-33页 |
| 3.1.3 中国半导体制造产业现状分析 | 第33-36页 |
| 3.2 半导体制造企业的质量管理发展 | 第36-40页 |
| 3.2.1 半导体制造企业质量的特点分析 | 第36-37页 |
| 3.2.2 半导体制造企业的质量控制体系分析 | 第37-39页 |
| 3.2.3 半导体质量控制的发展概述 | 第39-40页 |
| 3.3 半导体制造质量控制存在的问题探讨 | 第40-41页 |
| 第4章 质量控制在S半导体制造企业的运用 | 第41-54页 |
| 4.1 S公司简介 | 第41-42页 |
| 4.2 S公司生产质量状况分析 | 第42-44页 |
| 4.3 S 公司的质量控制方法探讨 | 第44-52页 |
| 4.3.1 S公司员工管理及改善 | 第44-48页 |
| 4.3.2 S 公司统计制程控制及改善 | 第48-50页 |
| 4.3.3 S公司生产设备管理及改善 | 第50-51页 |
| 4.3.4 S公司知识分享系统及改善 | 第51-52页 |
| 4.4 S 公司质量改善效果分析 | 第52-54页 |
| 第5章 总结和展望 | 第54-56页 |
| 5.1 总结 | 第54页 |
| 5.2 展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第58页 |
