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并发缺陷的检测与规避研究

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-8页
第1章 绪论第17-47页
    1.1 课题背景及研究目的与意义第17-26页
        1.1.1 课题研究背景第17-18页
        1.1.2 并发程序的特点第18-19页
        1.1.3 并发缺陷的特点第19页
        1.1.4 并发缺陷的分类第19-23页
        1.1.5 4 类并发缺陷的相互关系第23页
        1.1.6 并发缺陷分析的关键技术挑战第23-25页
        1.1.7 研究目的与意义第25-26页
    1.2 国内外研究现状及分析第26-44页
        1.2.1 并发缺陷暴露第26-27页
        1.2.2 并发缺陷检测第27-37页
        1.2.3 并发缺陷规避第37-42页
        1.2.4 通用并发缺陷检测与规避第42页
        1.2.5 现有研究存在的问题分析第42-44页
    1.3 本文的研究内容和组织结构第44-47页
        1.3.1 研究内容第44页
        1.3.2 组织结构第44-47页
第2章 基于锁分配图的混合死锁动态检测方法第47-66页
    2.1 引言第47-49页
        2.1.1 现有研究存在的问题第47-48页
        2.1.2 本文的解决思路第48-49页
    2.2 混合锁分配图与5类死锁定义第49-50页
    2.3 加锁解锁劫持算法第50-55页
        2.3.1 互斥锁加锁解锁劫持算法第51-54页
        2.3.2 读写锁加锁解锁劫持算法第54-55页
    2.4 混合锁分配图构建和环检测算法第55-57页
    2.5 实验与分析第57-65页
        2.5.1 基准死锁程序集第57-59页
        2.5.2 实验环境第59页
        2.5.3 检测能力评测与对比第59-62页
        2.5.4 性能影响评测与分析第62-64页
        2.5.5 可扩展性评测与分析第64-65页
    2.6 本章小结第65-66页
第3章 动静结合的数据竞争检测方法第66-112页
    3.1 引言第66-68页
        3.1.1 现有研究存在的问题第66-68页
        3.1.2 本文的解决思路第68页
    3.2 静态数据竞争检测第68-71页
        3.2.1 静态竞争检测工具RELAY第68-69页
        3.2.2 静态竞争访问对生成第69-71页
    3.3 静态自旋读循环定位第71-78页
        3.3.1 静态分析工具Cetus第71页
        3.3.2 自定义同步原语第71-74页
        3.3.3 自旋读循环定位第74-78页
    3.4 动态数据竞争验证与检测第78-93页
        3.4.1 动态插桩工具Pin和Maple第79页
        3.4.2 动态数据竞争检测第79-88页
        3.4.3 动态数据竞争验证第88-92页
        3.4.4 动态数据竞争检测式验证第92-93页
    3.5 自定义同步原语动态确认与误检竞争剔除第93-98页
        3.5.1 自定义同步原语动态确认第94-97页
        3.5.2 误检竞争剔除第97-98页
    3.6 实验与分析第98-110页
        3.6.1 基准竞争程序集第99-100页
        3.6.2 实验环境与竞争检测工具第100-101页
        3.6.3 检测能力评测与对比第101-108页
        3.6.4 性能影响评测与分析第108-109页
        3.6.5 可扩展性评测与分析第109-110页
    3.7 本章小结第110-112页
第4章 基于未来锁集的动静结合死锁规避方法第112-138页
    4.1 引言第112-113页
        4.1.1 现有研究存在的问题第112页
        4.1.2 本文的解决思路第112-113页
    4.2 规避对象、锁效应与未来锁集第113-117页
        4.2.1 规避对象第114页
        4.2.2 锁效应第114-116页
        4.2.3 未来锁集第116-117页
    4.3 规避逻辑第117-120页
    4.4 死锁规避方法的具体实现第120-128页
        4.4.1 过程内控制流图建立第120-121页
        4.4.2 过程内控制流图路径分析第121-124页
        4.4.3 锁效应计算与插桩第124-127页
        4.4.4 加锁解锁操作劫持第127页
        4.4.5 规避逻辑的原子执行第127-128页
    4.5 实验与分析第128-136页
        4.5.1 基准死锁程序集和基准非死锁程序集第128-129页
        4.5.2 实验环境与死锁规避工具第129页
        4.5.3 规避能力评测与对比第129-132页
        4.5.4 性能影响评测与分析第132-135页
        4.5.5 可扩展性评测与分析第135-136页
    4.6 本章小结第136-138页
第5章 基于软件事务内存的并发缺陷规避方法第138-191页
    5.1 引言第138-146页
        5.1.1 现有研究存在的问题第138-140页
        5.1.2 本文的解决思路第140-146页
    5.2 可回滚内存第146-149页
        5.2.1 可回滚全局内存第146-147页
        5.2.2 可回滚堆内存第147-149页
    5.3 可回滚执行第149-151页
    5.4 可回滚I/O第151-158页
        5.4.1 可回滚系统I/O第152-158页
        5.4.2 可回滚C I/O第158页
    5.5 条件变量处理第158-160页
    5.6 事务执行第160-161页
    5.7 实验与分析第161-190页
        5.7.1 实验环境第161页
        5.7.2 适用性评估第161-164页
        5.7.3 在内存密集程序集上的性能评测与对比第164-171页
        5.7.4 在I/O密集程序集上的性能评测与对比第171-174页
        5.7.5 在条件变量密集程序集上的性能评测与对比第174-177页
        5.7.6 在真实程序集上的性能评测与对比第177-178页
        5.7.7 在并发缺陷集上的规避能力评测与对比第178-190页
    5.8 本章小结第190-191页
结论第191-194页
参考文献第194-211页
攻读博士学位期间发表的论文及其他成果第211-214页
致谢第214-215页
个人简历第215页

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