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基于ADRC的面源黑体温控系统研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第8-13页
    1.1 引言第8页
    1.2 课题研究背景及意义第8-9页
    1.3 课题发展与研究现状第9-11页
        1.3.1 面源黑体温度控制的发展现状第9-10页
        1.3.2 自抗扰控制的研究进展与现状第10-11页
    1.4 论文主要工作第11-13页
第二章 模型辨识与特性分析第13-19页
    2.1 引言第13页
    2.2 面源黑体简介第13-14页
    2.3 温控品质要求第14页
    2.4 面源黑体温控过程数学建模第14-18页
        2.4.1 面源黑体温控过程原理第14-16页
        2.4.2 模型参数辨识与分析第16-18页
    2.5 本章小结第18-19页
第三章 温控方法研究第19-44页
    3.1 引言第19-20页
    3.2 PID控制的基本原理及设计第20-23页
        3.2.1 基于PID的面源黑体温度控制器设计第20-21页
        3.2.2 仿真实验与结果分析第21-23页
    3.3 非线性PID控制的基本原理及设计第23-28页
        3.3.1 跟踪微分器(TD)第23-25页
        3.3.2 基于NPID的面源黑体温度控制器设计第25页
        3.3.3 仿真实验与结果分析第25-28页
    3.4 ADRC的基本原理及设计第28-39页
        3.4.1 扩张状态观测器(ESO)第28-30页
        3.4.2 ADRC的线性化动态扰动补偿机制第30-31页
        3.4.3 非线性误差反馈控制律(NLSEF)第31页
        3.4.4 ADRC的稳定性分析第31-35页
        3.4.5 基于ADRC的面源黑体温度控制器设计第35-36页
        3.4.6 仿真实验与结果分析第36-39页
    3.5 改进的ADRC算法(SEADRC)及设计第39-42页
        3.5.1 对参数b_0的改造第39-40页
        3.5.2 基于扰动估计分离的ADRC算法(SEADRC)及设计第40-41页
        3.5.3 仿真实验与结果分析第41-42页
    3.6 本章小结第42-44页
第四章 温控系统设计第44-55页
    4.1 引言第44页
    4.2 温控系统的硬件设计第44-49页
        4.2.1 硬件总体设计第44-45页
        4.2.2 Compact RIO控制器简介第45-46页
        4.2.3 转换继电器(TE10A)简介第46-47页
        4.2.4 薄膜加热器第47页
        4.2.5 测温传感器与数据传输第47-49页
    4.3 温控系统的软件设计第49-54页
        4.3.1 软件总体设计第49页
        4.3.2 Lab VIEW图形化编程软件简介第49-51页
        4.3.3 离散数字化ADRC算法的软件实现第51-54页
    4.4 本章小结第54-55页
第五章 实验过程与结果验证第55-66页
    5.1 引言第55页
    5.2 控制器的鲁棒性分析第55-58页
    5.3 验证SEADRC的实际温控效果第58-61页
    5.4 面源黑体温度的自抗扰控制第61-65页
    5.5 本章小结第65-66页
第六章 总结与展望第66-68页
    6.1 论文工作总结第66-67页
    6.2 需要进一步开展的工作第67-68页
参考文献第68-72页
发表论文和科研情况说明第72-73页
致谢第73页

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