摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-13页 |
1.1 引言 | 第8页 |
1.2 课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
1.3 课题发展与研究现状 | 第9-11页 |
1.3.1 面源黑体温度控制的发展现状 | 第9-10页 |
1.3.2 自抗扰控制的研究进展与现状 | 第10-11页 |
1.4 论文主要工作 | 第11-13页 |
第二章 模型辨识与特性分析 | 第13-19页 |
2.1 引言 | 第13页 |
2.2 面源黑体简介 | 第13-14页 |
2.3 温控品质要求 | 第14页 |
2.4 面源黑体温控过程数学建模 | 第14-18页 |
2.4.1 面源黑体温控过程原理 | 第14-16页 |
2.4.2 模型参数辨识与分析 | 第16-18页 |
2.5 本章小结 | 第18-19页 |
第三章 温控方法研究 | 第19-44页 |
3.1 引言 | 第19-20页 |
3.2 PID控制的基本原理及设计 | 第20-23页 |
3.2.1 基于PID的面源黑体温度控制器设计 | 第20-21页 |
3.2.2 仿真实验与结果分析 | 第21-23页 |
3.3 非线性PID控制的基本原理及设计 | 第23-28页 |
3.3.1 跟踪微分器(TD) | 第23-25页 |
3.3.2 基于NPID的面源黑体温度控制器设计 | 第25页 |
3.3.3 仿真实验与结果分析 | 第25-28页 |
3.4 ADRC的基本原理及设计 | 第28-39页 |
3.4.1 扩张状态观测器(ESO) | 第28-30页 |
3.4.2 ADRC的线性化动态扰动补偿机制 | 第30-31页 |
3.4.3 非线性误差反馈控制律(NLSEF) | 第31页 |
3.4.4 ADRC的稳定性分析 | 第31-35页 |
3.4.5 基于ADRC的面源黑体温度控制器设计 | 第35-36页 |
3.4.6 仿真实验与结果分析 | 第36-39页 |
3.5 改进的ADRC算法(SEADRC)及设计 | 第39-42页 |
3.5.1 对参数b_0的改造 | 第39-40页 |
3.5.2 基于扰动估计分离的ADRC算法(SEADRC)及设计 | 第40-41页 |
3.5.3 仿真实验与结果分析 | 第41-42页 |
3.6 本章小结 | 第42-44页 |
第四章 温控系统设计 | 第44-55页 |
4.1 引言 | 第44页 |
4.2 温控系统的硬件设计 | 第44-49页 |
4.2.1 硬件总体设计 | 第44-45页 |
4.2.2 Compact RIO控制器简介 | 第45-46页 |
4.2.3 转换继电器(TE10A)简介 | 第46-47页 |
4.2.4 薄膜加热器 | 第47页 |
4.2.5 测温传感器与数据传输 | 第47-49页 |
4.3 温控系统的软件设计 | 第49-54页 |
4.3.1 软件总体设计 | 第49页 |
4.3.2 Lab VIEW图形化编程软件简介 | 第49-51页 |
4.3.3 离散数字化ADRC算法的软件实现 | 第51-54页 |
4.4 本章小结 | 第54-55页 |
第五章 实验过程与结果验证 | 第55-66页 |
5.1 引言 | 第55页 |
5.2 控制器的鲁棒性分析 | 第55-58页 |
5.3 验证SEADRC的实际温控效果 | 第58-61页 |
5.4 面源黑体温度的自抗扰控制 | 第61-65页 |
5.5 本章小结 | 第65-66页 |
第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
6.1 论文工作总结 | 第66-67页 |
6.2 需要进一步开展的工作 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-72页 |
发表论文和科研情况说明 | 第72-73页 |
致谢 | 第73页 |