嵌入式存储器可测性设计及片上修复技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景与意义 | 第7-9页 |
| ·国内外研究状况 | 第9-10页 |
| ·论文主要工作与结构安排 | 第10-13页 |
| 第二章 可测性设计 | 第13-25页 |
| ·Ad Hoc DFT | 第13-14页 |
| ·Structured DFT | 第14-22页 |
| ·扫描技术 | 第14-17页 |
| ·内建自测试 BIST | 第17-19页 |
| ·边界扫描测试 BSCAN | 第19-22页 |
| ·芯片设计流程 | 第22-23页 |
| ·小结 | 第23-25页 |
| 第三章 嵌入式存储器测试与修复技术 | 第25-37页 |
| ·存储器工作机制 | 第25-30页 |
| ·存储器模型 | 第25-27页 |
| ·存储器的缺陷类型 | 第27-30页 |
| ·嵌入式存储器的测试技术 | 第30-32页 |
| ·存储器直接存取测试 | 第30-31页 |
| ·片上微处理器测试 | 第31页 |
| ·存储器内建自测试 | 第31-32页 |
| ·存储器的修复技术 | 第32-35页 |
| ·系统容错技术 | 第32-33页 |
| ·存储器修复技术 | 第33-35页 |
| ·小结 | 第35-37页 |
| 第四章 存储器内建自测试设计 | 第37-53页 |
| ·测试算法 | 第37-40页 |
| ·MBIST 电路设计 | 第40-45页 |
| ·BIST 控制器 | 第40-41页 |
| ·地址生成器 | 第41-42页 |
| ·数据生成器 | 第42页 |
| ·响应分析器 | 第42-44页 |
| ·MBIST 总体架构 | 第44-45页 |
| ·MBIST 电路的顶层设计 | 第45-48页 |
| ·MBIST 模块端口 | 第45-46页 |
| ·MBIST 的顶层连接 | 第46-47页 |
| ·多片存储器 MBIST | 第47-48页 |
| ·测试仿真 | 第48-51页 |
| ·小结 | 第51-53页 |
| 第五章 嵌入式存储器的片上修复 | 第53-65页 |
| ·电子可编程熔丝 | 第53-55页 |
| ·冗余逻辑的设计 | 第55-56页 |
| ·Repair control 模块 | 第56-58页 |
| ·修复系统的整体实现 | 第58-62页 |
| ·修复系统的优化 | 第62-63页 |
| ·小结 | 第63-65页 |
| 第六章 总结 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
