| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景和现状 | 第7-9页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·研究现状 | 第8-9页 |
| ·研究目的和意义 | 第9-10页 |
| ·论文结构 | 第10-13页 |
| 第二章 单粒子翻转效应基础 | 第13-26页 |
| ·单粒子翻转相关空间辐射环境 | 第13-15页 |
| ·单粒子翻转基本机理 | 第15-19页 |
| ·电荷的产生和收集 | 第16-18页 |
| ·SRAM 单粒子翻转机制 | 第18-19页 |
| ·单粒子翻转截面及翻转判定 | 第19-24页 |
| ·单粒子翻转截面及曲线 | 第19-20页 |
| ·单粒子翻转截面的获取 | 第20-23页 |
| ·单粒子翻转的判定 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 器件单粒子翻转率计算方法 | 第26-40页 |
| ·超深亚微米器件新效应 | 第26-28页 |
| ·器件存储单元间电荷共享 | 第26-27页 |
| ·多位翻转及多位翻转截面 | 第27-28页 |
| ·基于积分的器件单粒子翻转率计算方法 | 第28-35页 |
| ·基于积分的单粒子翻转率计算方法基础 | 第28-29页 |
| ·重离子单粒子翻转率计算方法 | 第29-32页 |
| ·质子单粒子翻转计算方法 | 第32-35页 |
| ·基于 FOM 的器件单粒子翻转率计算方法 | 第35-38页 |
| ·基于截面数据的 FOM 方法 | 第35-37页 |
| ·基于器件参数的 FOM 方法 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 超深亚微米尺度单粒子翻转率计算方法验证及在轨预计应用方案 | 第40-54页 |
| ·空间环境模型的选取 | 第40-41页 |
| ·单粒子翻转率计算程序算法流程 | 第41-42页 |
| ·关键技术节点处器件单粒子翻转率计算结果 | 第42-47页 |
| ·不同技术节点器件单粒子翻转率计算结果 | 第42-45页 |
| ·130nm 技术节点器件多位翻转率计算结果 | 第45-47页 |
| ·超深亚微米尺度单粒子翻转率计算方法验证与讨论 | 第47-51页 |
| ·单粒子翻转率在轨预计应用方案 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 总结与展望 | 第54-56页 |
| ·论文总结 | 第54-55页 |
| ·展望 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |