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数字集成电路测试矢量输入方法研究和软件实现

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-7页
目录第7-10页
第一章 绪论第10-15页
   ·课题的背景来源第10页
   ·数字集成电路测试的分类第10-11页
   ·数字集成电路测试的发展及国内外现状第11-12页
   ·数字集成电路测试矢量输入方式现状第12-13页
   ·本课题研究的目的第13-14页
   ·本文的研究内容和章节安排第14-15页
第二章 数字集成电路测试系统总体简介第15-26页
   ·数字集成电路测试仪硬件系统总体介绍第15-19页
     ·功能测试需求介绍第15-16页
     ·测试仪硬件系统介绍第16-17页
     ·测试仪硬件组成部分介绍第17-19页
   ·数字集成电路测试系统软件第19-25页
     ·上位机软件开发环境第20页
     ·上位机功能结构第20-22页
     ·上位机软件流程第22-23页
     ·软件数据库设计第23-25页
   ·本章小结第25-26页
第三章 功能测试原理第26-34页
   ·功能测试原理简介第26-28页
   ·功能测试模式第28-29页
   ·功能测试流程第29-33页
     ·输入转换测试矢量第29-31页
     ·功能测试并返回测试数据第31-33页
     ·测试结果的判定第33页
   ·本章小结第33-34页
第四章 测试矢量输入方法设计第34-52页
   ·直接输入测试矢量第35-39页
     ·直接输入测试矢量的目的、对象第35页
     ·直接输入测试矢量流程第35-36页
     ·软件设计第36-39页
   ·第三方软件输入法第39-51页
     ·第三方软件输入法的目的、对象和原理第39-43页
     ·第三方软件输入法流程第43-45页
     ·软件设计第45-51页
   ·本章小结第51-52页
第五章 自定义文本描述语言输入法第52-68页
   ·自定义文本描述语言输入法目的、对象第52-53页
   ·模块结构、数据类型第53-55页
   ·语法规则第55-60页
   ·软件设计第60-66页
   ·本章小结第66-68页
第六章 软件测试和应用第68-86页
   ·软件测试第68-72页
     ·软件测试原则第68-69页
     ·软件测试环境第69页
     ·软件测试步骤第69-70页
     ·软件测试结果第70-72页
   ·软件功能测试的应用第72-76页
     ·直接输入测试矢量方式测试 74LS164 芯片第72-73页
     ·测试步骤第73-76页
     ·测试结果第76页
   ·第三方软件输入测试矢量法测试 74LS138 译码器第76-79页
     ·测试目标及指标第76-77页
     ·测试步骤第77-79页
     ·测试结果第79页
   ·自定义标准文本描述语言输入测试矢量法测试 R002D 芯片第79-85页
     ·测试目标及指标第79-80页
     ·测试流程第80-84页
     ·测试结果第84-85页
   ·总结与展望第85-86页
致谢第86-87页
参考文献第87-89页
攻读硕士期间取得的研究成果第89-90页

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