| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题的背景来源 | 第10页 |
| ·数字集成电路测试的分类 | 第10-11页 |
| ·数字集成电路测试的发展及国内外现状 | 第11-12页 |
| ·数字集成电路测试矢量输入方式现状 | 第12-13页 |
| ·本课题研究的目的 | 第13-14页 |
| ·本文的研究内容和章节安排 | 第14-15页 |
| 第二章 数字集成电路测试系统总体简介 | 第15-26页 |
| ·数字集成电路测试仪硬件系统总体介绍 | 第15-19页 |
| ·功能测试需求介绍 | 第15-16页 |
| ·测试仪硬件系统介绍 | 第16-17页 |
| ·测试仪硬件组成部分介绍 | 第17-19页 |
| ·数字集成电路测试系统软件 | 第19-25页 |
| ·上位机软件开发环境 | 第20页 |
| ·上位机功能结构 | 第20-22页 |
| ·上位机软件流程 | 第22-23页 |
| ·软件数据库设计 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 功能测试原理 | 第26-34页 |
| ·功能测试原理简介 | 第26-28页 |
| ·功能测试模式 | 第28-29页 |
| ·功能测试流程 | 第29-33页 |
| ·输入转换测试矢量 | 第29-31页 |
| ·功能测试并返回测试数据 | 第31-33页 |
| ·测试结果的判定 | 第33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 测试矢量输入方法设计 | 第34-52页 |
| ·直接输入测试矢量 | 第35-39页 |
| ·直接输入测试矢量的目的、对象 | 第35页 |
| ·直接输入测试矢量流程 | 第35-36页 |
| ·软件设计 | 第36-39页 |
| ·第三方软件输入法 | 第39-51页 |
| ·第三方软件输入法的目的、对象和原理 | 第39-43页 |
| ·第三方软件输入法流程 | 第43-45页 |
| ·软件设计 | 第45-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 自定义文本描述语言输入法 | 第52-68页 |
| ·自定义文本描述语言输入法目的、对象 | 第52-53页 |
| ·模块结构、数据类型 | 第53-55页 |
| ·语法规则 | 第55-60页 |
| ·软件设计 | 第60-66页 |
| ·本章小结 | 第66-68页 |
| 第六章 软件测试和应用 | 第68-86页 |
| ·软件测试 | 第68-72页 |
| ·软件测试原则 | 第68-69页 |
| ·软件测试环境 | 第69页 |
| ·软件测试步骤 | 第69-70页 |
| ·软件测试结果 | 第70-72页 |
| ·软件功能测试的应用 | 第72-76页 |
| ·直接输入测试矢量方式测试 74LS164 芯片 | 第72-73页 |
| ·测试步骤 | 第73-76页 |
| ·测试结果 | 第76页 |
| ·第三方软件输入测试矢量法测试 74LS138 译码器 | 第76-79页 |
| ·测试目标及指标 | 第76-77页 |
| ·测试步骤 | 第77-79页 |
| ·测试结果 | 第79页 |
| ·自定义标准文本描述语言输入测试矢量法测试 R002D 芯片 | 第79-85页 |
| ·测试目标及指标 | 第79-80页 |
| ·测试流程 | 第80-84页 |
| ·测试结果 | 第84-85页 |
| ·总结与展望 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-89页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第89-90页 |