| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| ·研究某装置测控技术的背景和意义 | 第10-14页 |
| ·某装置测量控制系统要求 | 第10-11页 |
| ·原有测控系统 | 第11-13页 |
| ·研究某装置测控技术的意义 | 第13-14页 |
| ·测控技术的发展和现状 | 第14-15页 |
| ·测控技术现状 | 第14-15页 |
| ·测控技术的发展趋势 | 第15页 |
| ·本文研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 Compact PCI总线与多线程 | 第17-32页 |
| ·Compact PCI总线技术概述 | 第17-24页 |
| ·Compact PCI总线的引出 | 第18页 |
| ·Compact PCI总线的架构 | 第18-19页 |
| ·Compact PCI总线的特点 | 第19-22页 |
| ·PXI总线概述 | 第22页 |
| ·Compact PCI和PXI的比较 | 第22-23页 |
| ·Compact PCI总线的应用 | 第23-24页 |
| ·多线程技术概述 | 第24-27页 |
| ·用户界面线程和工作者线程 | 第26页 |
| ·线程同步 | 第26-27页 |
| ·多线程优点 | 第27页 |
| ·Measurement Studio | 第27-31页 |
| ·Measurement Studio的特点 | 第28-29页 |
| ·用于Visual C++环境的Measurement Studio类 | 第29页 |
| ·Measurement Studio用户控件的使用 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 测控系统硬件设计 | 第32-46页 |
| ·测控系统的组建 | 第32-33页 |
| ·测控系统的逻辑结构 | 第33-34页 |
| ·测控系统的物理结构 | 第34-35页 |
| ·控制柜内部结构 | 第35-41页 |
| ·主机和板卡 | 第35-39页 |
| ·配电箱 | 第39-40页 |
| ·转接箱 | 第40-41页 |
| ·试验参数的描述及测量方法 | 第41-44页 |
| ·燃烧室温度测量 | 第41-42页 |
| ·压力测量 | 第42-43页 |
| ·流量测量 | 第43-44页 |
| ·技术创新 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 测控系统软件设计 | 第46-61页 |
| ·测控系统软件功能 | 第46-54页 |
| ·多线程设计 | 第46-47页 |
| ·程序流程简介 | 第47-48页 |
| ·各线程具体描述 | 第48-54页 |
| ·功能测试 | 第54-59页 |
| ·数据处理 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 系统的试验与验证 | 第61-68页 |
| ·系统调试 | 第61-64页 |
| ·系统联调 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 个人简历 | 第75页 |