氟化氪激光光致荧光在光学元件激光损伤探测中的应用
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1. 绪论 | 第6-11页 |
| ·激光核聚变简介 | 第6-7页 |
| ·课题背景 | 第7-8页 |
| ·国内外进展情况 | 第8-9页 |
| ·光致荧光效应 | 第9-11页 |
| 2. 实验原理 | 第11-13页 |
| ·激光辐照损伤的机制 | 第11页 |
| ·激光辐照损伤的荧光效应 | 第11-13页 |
| 3. 实验条件 | 第13-16页 |
| ·辐照方式的选择 | 第13-14页 |
| ·辐照光束的入射角 | 第14页 |
| ·辐照光斑的面积 | 第14-15页 |
| ·辐照区域的间隔 | 第15-16页 |
| 4. 实验装置 | 第16-24页 |
| ·激光辐照装置 | 第16-18页 |
| ·空间平滑的辐照光源 | 第17-18页 |
| ·像传递系统 | 第18页 |
| ·辐照光参数监测系统 | 第18-21页 |
| ·辐照光束尺寸及分布的测量 | 第18-20页 |
| ·辐照光脉冲宽度的监测 | 第20-21页 |
| ·辐照光强度的监测 | 第21页 |
| ·损伤探测系统 | 第21-24页 |
| ·荧光探测系统光路 | 第21-22页 |
| ·荧光脉冲检测系统 | 第22页 |
| ·荧光成像系统 | 第22-24页 |
| 5. 实验结果及分析 | 第24-36页 |
| ·光学元件损伤前后荧光脉冲强度的变化器 | 第24-28页 |
| ·光学元件损伤前后荧光脉冲形状的变化 | 第28-29页 |
| ·光学元件损伤前后荧光强度分布的变化 | 第29-32页 |
| ·荧光法对光学镜片阈值的测试 | 第32-36页 |
| 6. 结论及展望 | 第36-38页 |
| 致谢 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-41页 |