| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·电容层析成像技术简介 | 第8-10页 |
| ·过程层析成像技术的提出及其发展 | 第8-10页 |
| ·电容层析成像 | 第10页 |
| ·ECT技术的发展现状 | 第10-12页 |
| ·本课题研究工作的主要内容 | 第12-14页 |
| ·课题的提出及主要研究内容 | 第12页 |
| ·本论文的组织 | 第12-14页 |
| 第二章 数字化电容层析成像系统的硬件设计 | 第14-33页 |
| ·电容层析成像系统的基本原理和构成 | 第14-16页 |
| ·数字化ECT系统结构 | 第15页 |
| ·ECT系统的电容传感器 | 第15-16页 |
| ·数据采集处理模块 | 第16-20页 |
| ·TMS320C6701 的特点及其体系结构 | 第17-18页 |
| ·数据采集卡的存储器配置 | 第18-19页 |
| ·A/D转换单元 | 第19-20页 |
| ·数据采集卡的FPGA设计 | 第20-23页 |
| ·可编程系列器件逻辑设计开发流程 | 第20-21页 |
| ·逻辑实现 | 第21-22页 |
| ·FPGA程序的加载 | 第22页 |
| ·混合电压系统设计 | 第22-23页 |
| ·系统激励源设计 | 第23-25页 |
| ·AD7008 芯片的结构与原理 | 第23-25页 |
| ·利用AD7008 构建正弦信号的过程 | 第25页 |
| ·电容测量电路 | 第25-27页 |
| ·激励测量选通电路 | 第26页 |
| ·C/V转换电路 | 第26-27页 |
| ·测量选通电路设计 | 第27-28页 |
| ·信号补偿、放大单元 | 第28-31页 |
| ·空场补偿 | 第29-30页 |
| ·可编程放大电路设计 | 第30-31页 |
| ·PCB电路板设计 | 第31-33页 |
| 第三章 数字信号处理在ECT系统中的应用 | 第33-44页 |
| ·数字滤波算法的实现 | 第33-38页 |
| ·数字滤波器设计的步骤和指标 | 第33-34页 |
| ·数字滤波器的分类 | 第34页 |
| ·FIR数字滤波器的设计 | 第34-38页 |
| ·全相位频谱分析 | 第38-44页 |
| ·傅立叶变换的概念 | 第38-39页 |
| ·频谱分析 | 第39页 |
| ·全相位频谱分析的概念 | 第39-41页 |
| ·全相位频谱性能分析 | 第41-44页 |
| 第四章 ECT系统的DSP程序开发 | 第44-52页 |
| ·C6000 DSPs软件开发的特点 | 第44-45页 |
| ·C6000DSPs的开发工具CCS | 第45-46页 |
| ·本系统中C6701 程序的基本结构 | 第46-49页 |
| ·C6701EMIF的配置 | 第47-48页 |
| ·DSP中断程序的编写 | 第48页 |
| ·DMA传输 | 第48-49页 |
| ·C程序的移植和源代码的性能评估 | 第49-50页 |
| ·程序优化 | 第50-52页 |
| ·第一阶段：利用CCS的优化选项 | 第50页 |
| ·第二阶段：调用TI提供的DSPLIB来优化C语言程序 | 第50-51页 |
| ·第三阶段：硬件优化 | 第51-52页 |
| 第五章 基于PCI总线的PC机程序设计 | 第52-63页 |
| ·基于PCI总线的DSP和主机通信 | 第52-55页 |
| ·PCI总线的特点 | 第52页 |
| ·PCI规范简介 | 第52-53页 |
| ·本系统中PCI接口的实现 | 第53-54页 |
| ·主机和DSP的通信 | 第54-55页 |
| ·ECT图像重建算法 | 第55-58页 |
| ·ECT敏感场的数学描述 | 第55-56页 |
| ·ECT正问题敏感场的建立 | 第56页 |
| ·ECT图像重建算法 | 第56-58页 |
| ·上位机实时软件包编写 | 第58-60页 |
| ·系统性能测试 | 第60-63页 |
| ·物体成像实验 | 第60页 |
| ·模拟流型成像实验 | 第60-61页 |
| ·实验结果分析 | 第61-62页 |
| ·动态性能测试 | 第62-63页 |
| 第六章 结论与建议 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |