像增强器荧光屏测试仪热电子发射均匀性研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 1 绪论 | 第7-19页 |
| ·夜视技术及微光像增强器的原理和发展现状 | 第7-9页 |
| ·微光像增强器的荧光屏 | 第9-15页 |
| ·荧光屏的发光机理 | 第9-12页 |
| ·荧光屏的性能参数 | 第12页 |
| ·荧光屏的亮度均匀性评价 | 第12-14页 |
| ·荧光屏的亮度均匀性测试介绍 | 第14-15页 |
| ·本论文的背景及意义 | 第15-17页 |
| ·本论文的主要工作 | 第17-19页 |
| 2 荧光屏性能参数测试仪的热电子发射源 | 第19-34页 |
| ·荧光屏性能参数综合测试仪 | 第19-22页 |
| ·荧光屏性能参数综合测试仪的工作原理及系统构成 | 第19-21页 |
| ·荧光屏亮度均匀性测试方法 | 第21-22页 |
| ·热电子发射源研究 | 第22-31页 |
| ·金属的热电子发射 | 第23-25页 |
| ·电子发射源的造型分析 | 第25-29页 |
| ·电子发射源的热电子均匀性分析 | 第29-31页 |
| ·荧光屏性能参数综合测试仪的电子枪 | 第31-34页 |
| ·电子枪的结构设计 | 第31-32页 |
| ·电子枪的供电系统 | 第32-34页 |
| 3 电子枪电场与电子轨迹的计算 | 第34-47页 |
| ·电子枪简介 | 第34页 |
| ·电子光学中的场与轨迹 | 第34-37页 |
| ·电子光学中的场 | 第35-36页 |
| ·电子光学中的轨迹 | 第36-37页 |
| ·场与电子轨迹的数值计算研究 | 第37-47页 |
| ·电场的数值求解 | 第38-42页 |
| ·电子轨迹的数值求解 | 第42-44页 |
| ·数值计算的细节问题 | 第44-47页 |
| 4 像增强器荧光屏测试仪的电子枪 | 第47-59页 |
| ·电子枪电场的计算 | 第47-50页 |
| ·边界的确定 | 第47-48页 |
| ·网格点及精度的选取 | 第48页 |
| ·计算电子枪的电场分布 | 第48-50页 |
| ·电子枪电子轨迹的计算 | 第50-54页 |
| ·起点的确定 | 第50-51页 |
| ·轨迹方程的验证 | 第51-52页 |
| ·计算电子枪的电子轨迹 | 第52-54页 |
| ·电子枪的改进 | 第54-59页 |
| 5 荧光屏发光均匀性研究分析 | 第59-70页 |
| ·测试仪电子枪的电场分布与电子轨迹计算模拟 | 第59-64页 |
| ·电场边界的确定 | 第59-60页 |
| ·电子枪的发射源 | 第60-61页 |
| ·测试仪电子枪的电子轨迹 | 第61-62页 |
| ·电子轨迹的处理 | 第62-63页 |
| ·荧光屏发光均匀性的分析方法 | 第63-64页 |
| ·荧光屏发光均匀性分析 | 第64-70页 |
| 6 结束语 | 第70-72页 |
| ·本论文的工作总结 | 第70页 |
| ·本论文的创新点 | 第70-71页 |
| ·有待进一步进行的工作 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
