抗振干涉仪中短相干光源相干性的测试方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-16页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·抗振干涉仪的研究现状 | 第8-10页 |
| ·光源相干性测试的研究现状 | 第10-15页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第15-16页 |
| 2 部分相干理论 | 第16-26页 |
| ·光源的非单色性 | 第16页 |
| ·时间相干性与空间相干性 | 第16-17页 |
| ·互相干函数 | 第17-19页 |
| ·干涉光谱学理论 | 第19-21页 |
| ·干涉图采样 | 第19-20页 |
| ·干涉图与光谱 | 第20-21页 |
| ·干涉光谱处理技术 | 第21-24页 |
| ·切趾 | 第21-23页 |
| ·相位校正 | 第23-24页 |
| ·单色仪的介绍 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 3 LED相干性测试 | 第26-40页 |
| ·光谱计算的算法仿真 | 第26-28页 |
| ·矩形光谱仿真 | 第27页 |
| ·高斯光谱仿真 | 第27-28页 |
| ·测定LED中心波长 | 第28-29页 |
| ·测量LED光谱 | 第29-31页 |
| ·光栅单色仪的测量结果 | 第31-36页 |
| ·LED在测量平行平板玻璃光学均匀性实验中的应用 | 第36-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 4 半导体激光器的相干性测试 | 第40-59页 |
| ·模式操作与相干性 | 第40-42页 |
| ·高频调制输入电流 | 第42-43页 |
| ·光谱计算的算法仿真 | 第43-46页 |
| ·激光光谱模拟 | 第45页 |
| ·Na灯光谱模拟 | 第45-46页 |
| ·半导体激光器的调制 | 第46-58页 |
| ·温度对可见度的影响 | 第47-50页 |
| ·输入电流的大小对可见度的影响 | 第50-52页 |
| ·高频调制输入电流对可见度的影响 | 第52-55页 |
| ·其他激光器的调制 | 第55-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 5 短相干光源在抗振干涉系统中的应用 | 第59-64页 |
| ·抗振干涉系统原理 | 第59-62页 |
| ·实验结果 | 第62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 6 总结与展望 | 第64-66页 |
| ·本论文主要工作 | 第64页 |
| ·待解决的问题 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
